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集成电路测试装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN02157159.7
申请日
:
2002-12-17
公开(公告)号
:
CN1508859A
公开(公告)日
:
2004-06-30
发明(设计)人
:
庄海峰
申请人
:
申请人地址
:
中国台湾
IPC主分类号
:
H01L2166
IPC分类号
:
G01R3128
代理机构
:
永新专利商标代理有限公司
代理人
:
刘兴鹏
法律状态
:
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2006-07-12
发明专利申请公布后的视为撤回
发明专利申请公布后的视为撤回
2004-09-08
实质审查的生效
实质审查的生效
2004-06-30
公开
公开
共 50 条
[1]
集成电路测试装置
[P].
商亚锋
论文数:
0
引用数:
0
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0
商亚锋
.
中国专利
:CN108008155A
,2018-05-08
[2]
集成电路测试装置
[P].
刘甲全
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘甲全
.
中国专利
:CN102466777A
,2012-05-23
[3]
集成电路测试装置
[P].
韩学森
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
日月新半导体(苏州)有限公司
日月新半导体(苏州)有限公司
韩学森
;
张志伟
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
日月新半导体(苏州)有限公司
日月新半导体(苏州)有限公司
张志伟
;
陈乃溪
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
日月新半导体(苏州)有限公司
日月新半导体(苏州)有限公司
陈乃溪
;
苏康宏
论文数:
0
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0
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0
机构:
日月新半导体(苏州)有限公司
日月新半导体(苏州)有限公司
苏康宏
;
沈飞飞
论文数:
0
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0
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0
机构:
日月新半导体(苏州)有限公司
日月新半导体(苏州)有限公司
沈飞飞
.
中国专利
:CN221826397U
,2024-10-11
[4]
集成电路测试装置
[P].
段超毅
论文数:
0
引用数:
0
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0
段超毅
.
中国专利
:CN2836018Y
,2006-11-08
[5]
集成电路测试装置
[P].
王国华
论文数:
0
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王国华
;
谢伟
论文数:
0
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0
谢伟
.
中国专利
:CN207717928U
,2018-08-10
[6]
集成电路测试装置
[P].
刘丰
论文数:
0
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0
刘丰
;
吕方艳
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0
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吕方艳
;
梁晓梅
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梁晓梅
;
刘应明
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刘应明
.
中国专利
:CN208795255U
,2019-04-26
[7]
集成电路测试装置
[P].
王国华
论文数:
0
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0
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0
王国华
.
中国专利
:CN202443037U
,2012-09-19
[8]
集成电路测试装置
[P].
邢思波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
日月新半导体(苏州)有限公司
日月新半导体(苏州)有限公司
邢思波
.
中国专利
:CN113484736B
,2025-09-19
[9]
集成电路测试装置
[P].
陈健
论文数:
0
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0
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陈健
;
陆人杰
论文数:
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0
陆人杰
.
中国专利
:CN217404469U
,2022-09-09
[10]
集成电路测试装置
[P].
邢思波
论文数:
0
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0
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0
邢思波
.
中国专利
:CN215493976U
,2022-01-11
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