集成电路测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN02157159.7
申请日
2002-12-17
公开(公告)号
CN1508859A
公开(公告)日
2004-06-30
发明(设计)人
庄海峰
申请人
申请人地址
中国台湾
IPC主分类号
H01L2166
IPC分类号
G01R3128
代理机构
永新专利商标代理有限公司
代理人
刘兴鹏
法律状态
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
集成电路测试装置 [P]. 
商亚锋 .
中国专利 :CN108008155A ,2018-05-08
[2]
集成电路测试装置 [P]. 
刘甲全 .
中国专利 :CN102466777A ,2012-05-23
[3]
集成电路测试装置 [P]. 
韩学森 ;
张志伟 ;
陈乃溪 ;
苏康宏 ;
沈飞飞 .
中国专利 :CN221826397U ,2024-10-11
[4]
集成电路测试装置 [P]. 
段超毅 .
中国专利 :CN2836018Y ,2006-11-08
[5]
集成电路测试装置 [P]. 
王国华 ;
谢伟 .
中国专利 :CN207717928U ,2018-08-10
[6]
集成电路测试装置 [P]. 
刘丰 ;
吕方艳 ;
梁晓梅 ;
刘应明 .
中国专利 :CN208795255U ,2019-04-26
[7]
集成电路测试装置 [P]. 
王国华 .
中国专利 :CN202443037U ,2012-09-19
[8]
集成电路测试装置 [P]. 
邢思波 .
中国专利 :CN113484736B ,2025-09-19
[9]
集成电路测试装置 [P]. 
陈健 ;
陆人杰 .
中国专利 :CN217404469U ,2022-09-09
[10]
集成电路测试装置 [P]. 
邢思波 .
中国专利 :CN215493976U ,2022-01-11