用于集成电路测试的PCB板及集成电路测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202520824873.8

申请日：

2025-04-28

公开(公告)号：

CN222996768U

公开(公告)日：

2025-06-17

发明(设计)人：

李远盖晓峰

申请人：

合肥智芯半导体有限公司苏州萨沙迈半导体有限公司

申请人地址：

230000 安徽省合肥市高新区望江西路900号中安创谷科技园一期A2栋501/502/503/505室

IPC主分类号：

H05K1/18

IPC分类号：

H05K1/02 G01R31/28 G01R1/04

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

张培培

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-17	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路测试座及集成电路测试装置 [P].

程振 ;

李志雄 ;

刘旭 ;

王平 ;

燕祖德 .

中国专利 :CN214375125U ,2021-10-08

[2]

集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN205193228U ,2016-04-27

[3]

集成电路strip测试装置 [P].

沈飞飞 ;

张志伟 ;

刘小飞 ;

苏康宏 ;

韩学森 ;

陈乃溪 .

中国专利 :CN223092030U ,2025-07-11

[4]

集成电路测试装置 [P].

韩学森 ;

张志伟 ;

陈乃溪 ;

苏康宏 ;

沈飞飞 .

中国专利 :CN221826397U ,2024-10-11

[5]

集成电路测试装置 [P].

陈健 ;

陆人杰 .

中国专利 :CN217404469U ,2022-09-09

[6]

集成电路测试装置 [P].

蔡晓东 .

中国专利 :CN221124786U ,2024-06-11

[7]

新型集成电路测试装置 [P].

林峰 ;

姜龙 .

中国专利 :CN221199857U ,2024-06-21

[8]

一种用于测试集成电路的电路架构及集成电路测试方法 [P].

丁盛峰 ;

李志浩 ;

阮辉 .

中国专利 :CN118112397A ,2024-05-31

[9]

集成电路测试装置 [P].

段超毅 .

中国专利 :CN2836018Y ,2006-11-08

[10]

集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN207717928U ,2018-08-10

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