一种可控硅整流元件快速测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201921426519.0

申请日：

2019-08-30

公开(公告)号：

CN210954235U

公开(公告)日：

2020-07-07

发明(设计)人：

何佳俊何保库

申请人：

申请人地址：

241000 安徽省芜湖市经济技术开发区衡山路35号汽车电子园二号厂房E402#

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

北京天盾知识产权代理有限公司 11421

代理人：

郭成;解敬文

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-12	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20190830 授权公告日:20200707 终止日期:20210830
2020-07-07	授权	授权

共 50 条

[1]

一种可控硅整流元件快速测试仪 [P].

侯新豪 ;

李如曼 .

中国专利 :CN201837701U ,2011-05-18

[2]

可控硅测试装置 [P].

卢铭 ;

韦并东 ;

卢桥 .

中国专利 :CN207799016U ,2018-08-31

[3]

一种可控硅测试装置 [P].

倪元年 .

中国专利 :CN212008815U ,2020-11-24

[4]

可控硅整流装置 [P].

陈文彩 .

中国专利 :CN201601615U ,2010-10-06

[5]

可控硅整流装置 [P].

冯振成 .

中国专利 :CN2655513Y ,2004-11-10

[6]

可控硅组件及可控硅整流装置 [P].

梁国胜 ;

吴建安 .

中国专利 :CN202930378U ,2013-05-08

[7]

可控硅测试装置 [P].

卢铭 ;

韦并东 ;

卢桥 .

中国专利 :CN108303631A ,2018-07-20

[8]

可控硅测试装置 [P].

滕波 .

中国专利 :CN101581755B ,2009-11-18

[9]

一种可控硅整流装置 [P].

黄继彬 ;

罗永志 ;

钟青松 .

中国专利 :CN215498741U ,2022-01-11

[10]

一种双向可控硅测试装置 [P].

李勋 ;

郭斌 ;

郭兴 ;

董少杰 ;

尚彦君 ;

曹磊 ;

刘清 ;

邬燕萍 ;

杨超亚 ;

王换小 .

中国专利 :CN222825634U ,2025-05-02

← 1 2 3 4 5 →