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一种高温老化测试箱的门体
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201922479014.7
申请日：
2019-12-31
公开(公告)号：
CN211955684U
公开(公告)日：
2020-11-17
发明(设计)人：
李在赫
申请人：
申请人地址：
215129 江苏省苏州市苏州高新区湘江路1508号1#厂房北区4楼
IPC主分类号：
G01R3100
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297
代理人：
李倩倩
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-11-17 | 授权 | 授权 |