一种高温老化测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202423237676.0

申请日：

2024-12-26

公开(公告)号：

CN223711738U

公开(公告)日：

2025-12-23

发明(设计)人：

王国强刘坚辉

申请人：

冠佳技术股份有限公司

申请人地址：

523591 广东省东莞市谢岗镇谢岗广场中路东二巷6号12栋103室

IPC主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

G01R1/04 B01L7/00

代理机构：

北京鑫浩联德专利代理事务所(普通合伙) 11380

代理人：

杨情情

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-23	授权	授权

共 50 条

[1]

一种高温老化测试设备 [P].

谈志兰 ;

于群 .

中国专利 :CN221174326U ,2024-06-18

[2]

一种高温老化测试设备 [P].

尹俊 ;

汪高明 .

中国专利 :CN221156717U ,2024-06-18

[3]

一种DRAM模组高温老化测试设备 [P].

吴伟波 ;

林德先 .

中国专利 :CN215376934U ,2021-12-31

[4]

一种SSD高温老化测试设备 [P].

李创锋 .

中国专利 :CN216562467U ,2022-05-17

[5]

一种固态硬盘高温老化测试设备 [P].

倪黄忠 ;

余辉 .

中国专利 :CN211788187U ,2020-10-27

[6]

电源模块高温老化测试设备 [P].

王飞鹏 ;

王晓阳 ;

李小春 .

中国专利 :CN212932900U ,2021-04-09

[7]

一种PCBA板全自动高温老化测试设备 [P].

李连庆 .

中国专利 :CN223742672U ,2025-12-30

[8]

一种变速器的高温老化测试设备 [P].

罗天生 ;

雷作钊 ;

罗南昌 ;

薛天宝 .

中国专利 :CN211626915U ,2020-10-02

[9]

一种液晶显示板高温老化测试设备 [P].

王德政 .

中国专利 :CN214846125U ,2021-11-23

[10]

一种硅光半导体高温老化测试设备 [P].

韩冬年 .

中国专利 :CN223284335U ,2025-08-29

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