四探针测量仪

被引:0
专利类型
外观设计
申请号
CN202130189375.8
申请日
2021-04-06
公开(公告)号
CN306885124S
公开(公告)日
2021-10-19
发明(设计)人
方辉
申请人
申请人地址
430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷二路219号9栋602
IPC主分类号
1004
IPC分类号
代理机构
武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231
代理人
丁倩
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
四探针电阻测量仪 [P]. 
相宇阳 ;
俞胜武 ;
陈剑 .
中国专利 :CN220490906U ,2024-02-13
[2]
四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测硅片的方法 [P]. 
施朱斌 ;
刘相华 .
中国专利 :CN119395519A ,2025-02-07
[3]
四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测硅片的方法 [P]. 
施朱斌 ;
刘相华 .
中国专利 :CN119395519B ,2025-04-29
[4]
四探针测量头装置及四探针测量仪 [P]. 
全首旭 ;
钟大龙 ;
李博研 ;
尚铁炜 ;
张建柱 ;
王子鑫 ;
魏垚 .
中国专利 :CN117554697A ,2024-02-13
[5]
四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测晶圆的方法 [P]. 
施朱斌 ;
刘相华 .
中国专利 :CN119414212A ,2025-02-11
[6]
四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测晶圆的方法 [P]. 
施朱斌 ;
刘相华 .
中国专利 :CN119395518A ,2025-02-07
[7]
四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测晶圆的方法 [P]. 
施朱斌 ;
刘相华 .
中国专利 :CN119395518B ,2025-05-16
[8]
四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测晶圆的方法 [P]. 
施朱斌 ;
刘相华 .
中国专利 :CN119414212B ,2025-06-03
[9]
多探针集成系统及四探针电阻测量仪 [P]. 
俞天皓 ;
相宇阳 ;
俞胜武 ;
陈剑 .
中国专利 :CN222105549U ,2024-12-03
[10]
四参数测量仪 [P]. 
刘德允 ;
陈莹 ;
吴江 ;
刘合祥 .
中国专利 :CN304535015S ,2018-03-09