学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
四探针测量仪
被引:0
专利类型
:
外观设计
申请号
:
CN202130189375.8
申请日
:
2021-04-06
公开(公告)号
:
CN306885124S
公开(公告)日
:
2021-10-19
发明(设计)人
:
方辉
申请人
:
申请人地址
:
430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷二路219号9栋602
IPC主分类号
:
1004
IPC分类号
:
代理机构
:
武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231
代理人
:
丁倩
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-10-19
授权
授权
共 50 条
[1]
四探针电阻测量仪
[P].
相宇阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
无锡卓海科技股份有限公司
无锡卓海科技股份有限公司
相宇阳
;
俞胜武
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
无锡卓海科技股份有限公司
无锡卓海科技股份有限公司
俞胜武
;
陈剑
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
无锡卓海科技股份有限公司
无锡卓海科技股份有限公司
陈剑
.
中国专利
:CN220490906U
,2024-02-13
[2]
四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测硅片的方法
[P].
施朱斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
施朱斌
;
刘相华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
刘相华
.
中国专利
:CN119395519A
,2025-02-07
[3]
四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测硅片的方法
[P].
施朱斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
施朱斌
;
刘相华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
刘相华
.
中国专利
:CN119395519B
,2025-04-29
[4]
四探针测量头装置及四探针测量仪
[P].
全首旭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
国家能源投资集团有限责任公司
国家能源投资集团有限责任公司
全首旭
;
钟大龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
国家能源投资集团有限责任公司
国家能源投资集团有限责任公司
钟大龙
;
李博研
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
国家能源投资集团有限责任公司
国家能源投资集团有限责任公司
李博研
;
尚铁炜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
国家能源投资集团有限责任公司
国家能源投资集团有限责任公司
尚铁炜
;
张建柱
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
国家能源投资集团有限责任公司
国家能源投资集团有限责任公司
张建柱
;
王子鑫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
国家能源投资集团有限责任公司
国家能源投资集团有限责任公司
王子鑫
;
魏垚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
国家能源投资集团有限责任公司
国家能源投资集团有限责任公司
魏垚
.
中国专利
:CN117554697A
,2024-02-13
[5]
四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测晶圆的方法
[P].
施朱斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
施朱斌
;
刘相华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
刘相华
.
中国专利
:CN119414212A
,2025-02-11
[6]
四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测晶圆的方法
[P].
施朱斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
施朱斌
;
刘相华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
刘相华
.
中国专利
:CN119395518A
,2025-02-07
[7]
四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测晶圆的方法
[P].
施朱斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
施朱斌
;
刘相华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
刘相华
.
中国专利
:CN119395518B
,2025-05-16
[8]
四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测晶圆的方法
[P].
施朱斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
施朱斌
;
刘相华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司
刘相华
.
中国专利
:CN119414212B
,2025-06-03
[9]
多探针集成系统及四探针电阻测量仪
[P].
俞天皓
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
无锡卓海科技股份有限公司
无锡卓海科技股份有限公司
俞天皓
;
相宇阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
无锡卓海科技股份有限公司
无锡卓海科技股份有限公司
相宇阳
;
俞胜武
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
无锡卓海科技股份有限公司
无锡卓海科技股份有限公司
俞胜武
;
陈剑
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
无锡卓海科技股份有限公司
无锡卓海科技股份有限公司
陈剑
.
中国专利
:CN222105549U
,2024-12-03
[10]
四参数测量仪
[P].
刘德允
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘德允
;
陈莹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈莹
;
吴江
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴江
;
刘合祥
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘合祥
.
中国专利
:CN304535015S
,2018-03-09
←
1
2
3
4
5
→