半导体基片和半导体器件及其制造方法

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专利类型
发明
申请号
CN200810166513.4
申请日
2008-10-09
公开(公告)号
CN101521208A
公开(公告)日
2009-09-02
发明(设计)人
内海胜喜 隈川隆博
申请人
申请人地址
日本大阪府
IPC主分类号
H01L27118
IPC分类号
H01L2178 B81B700 B81C500 H04R1702 H04R3100 B23K2640 B23K2638 B23K10140
代理机构
上海专利商标事务所有限公司
代理人
张 鑫
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体基片和制造半导体器件的方法 [P]. 
浜田健彦 ;
浜田昌幸 .
中国专利 :CN1190790A ,1998-08-19
[2]
半导体器件和半导体器件制造方法 [P]. 
大隅贵寿 .
中国专利 :CN1945821A ,2007-04-11
[3]
半导体器件及其制造方法和半导体基板 [P]. 
赤星年隆 .
中国专利 :CN101404270A ,2009-04-08
[4]
半导体衬底、半导体器件制造方法和半导体器件测试方法 [P]. 
藤井滋 ;
有坂义一 ;
居鹤仁 ;
田代一宏 ;
丸山茂幸 .
中国专利 :CN1773679A ,2006-05-17
[5]
半导体器件的制造方法和半导体器件 [P]. 
梁剑波 .
中国专利 :CN110504160A ,2019-11-26
[6]
半导体器件和半导体器件的制造方法 [P]. 
福井自由 ;
高桥贵树 ;
出口香奈子 ;
那须贤太郎 .
日本专利 :CN113424311B ,2024-08-30
[7]
半导体器件和半导体器件的制造方法 [P]. 
福井自由 ;
高桥贵树 ;
出口香奈子 ;
那须贤太郎 .
中国专利 :CN113424311A ,2021-09-21
[8]
半导体器件和半导体器件的制造方法 [P]. 
加藤丰 ;
铃木宏明 ;
上田直人 ;
青仓勇 ;
吉田隆幸 ;
本藤拓磨 .
中国专利 :CN101174599A ,2008-05-07
[9]
半导体器件和半导体器件的制造方法 [P]. 
齐藤光俊 ;
高桥敬一 .
中国专利 :CN110520987A ,2019-11-29
[10]
半导体器件和制造半导体器件的方法 [P]. 
加藤信之 .
中国专利 :CN113675167A ,2021-11-19