光学测量装置、流量现场测量计及光学测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201010198222.0
申请日
2010-06-04
公开(公告)号
CN101923046A
公开(公告)日
2010-12-22
发明(设计)人
村木洋介
申请人
申请人地址
日本东京
IPC主分类号
G01N2101
IPC分类号
G01N2164 G01N2153
代理机构
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人
余刚;吴孟秋
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
光学测量方法及光学测量装置 [P]. 
松村淳一 ;
大久保宪治 .
中国专利 :CN1721841A ,2006-01-18
[2]
光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P]. 
徐添财 .
中国专利 :CN103293157A ,2013-09-11
[3]
光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P]. 
张健 ;
臧笑妍 ;
孙建超 ;
庄源 .
中国专利 :CN120445042A ,2025-08-08
[4]
光学测量装置及光学测量方法 [P]. 
高堉墐 ;
刘朝辉 ;
郑伊凯 ;
王世昌 ;
王大祥 .
中国专利 :CN103792190B ,2014-05-14
[5]
光学测量装置及光学测量方法 [P]. 
井上展幸 ;
田口都一 .
中国专利 :CN109163666A ,2019-01-08
[6]
光学测量方法及光学测量装置 [P]. 
K·克莱恩 ;
P·弗里兹 ;
A·安德森 .
中国专利 :CN112384751A ,2021-02-19
[7]
光学测量装置及光学测量方法 [P]. 
田口都一 .
日本专利 :CN112710634B ,2025-06-24
[8]
光学测量装置及光学测量方法 [P]. 
田口都一 .
日本专利 :CN120558845A ,2025-08-29
[9]
光学测量装置及光学测量方法 [P]. 
井上展幸 ;
田口都一 .
中国专利 :CN109405752B ,2019-03-01
[10]
光学测量装置及光学测量方法 [P]. 
梶井阳介 ;
近藤智则 .
中国专利 :CN112639392B ,2021-04-09