一种PGA芯片测试座

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申请号
CN202122641117.6
申请日
2021-10-29
公开(公告)号
CN217034009U
公开(公告)日
2022-07-22
发明(设计)人
王国华 李泽林
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市光明新区公明办事处田寮社区第十工业区4栋六楼A
IPC主分类号
G01R102
IPC分类号
G01R3128
代理机构
深圳中恒科专利代理有限公司 44808
代理人
解晓阳
法律状态
授权
国省代码
引用
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共 50 条
[1]
芯片测试座 [P]. 
张勇文 ;
袁小云 .
中国专利 :CN213398670U ,2021-06-08
[2]
一种芯片测试座 [P]. 
吴志明 .
中国专利 :CN211478392U ,2020-09-11
[3]
一种芯片测试座 [P]. 
夏俊杰 ;
林华胜 ;
顾红伟 .
中国专利 :CN118937966A ,2024-11-12
[4]
一种芯片测试座 [P]. 
吴炜奇 .
中国专利 :CN220455365U ,2024-02-06
[5]
一种芯片测试座 [P]. 
宁丽娟 .
中国专利 :CN215005521U ,2021-12-03
[6]
一种芯片测试座 [P]. 
闵哲 .
中国专利 :CN213845224U ,2021-07-30
[7]
一种芯片测试座 [P]. 
王鹤立 .
中国专利 :CN208782077U ,2019-04-23
[8]
一种芯片测试座 [P]. 
冷祥 ;
刘志华 ;
凡皓雪 .
中国专利 :CN220626594U ,2024-03-19
[9]
一种芯片测试机测试座 [P]. 
李维繁星 .
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[10]
一种便于拆卸的芯片测试座 [P]. 
朴文杰 ;
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李吉 .
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