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一种PGA芯片测试座
被引:0
申请号
:
CN202122641117.6
申请日
:
2021-10-29
公开(公告)号
:
CN217034009U
公开(公告)日
:
2022-07-22
发明(设计)人
:
王国华
李泽林
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市光明新区公明办事处田寮社区第十工业区4栋六楼A
IPC主分类号
:
G01R102
IPC分类号
:
G01R3128
代理机构
:
深圳中恒科专利代理有限公司 44808
代理人
:
解晓阳
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-07-22
授权
授权
共 50 条
[1]
芯片测试座
[P].
张勇文
论文数:
0
引用数:
0
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0
张勇文
;
袁小云
论文数:
0
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0
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0
袁小云
.
中国专利
:CN213398670U
,2021-06-08
[2]
一种芯片测试座
[P].
吴志明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴志明
.
中国专利
:CN211478392U
,2020-09-11
[3]
一种芯片测试座
[P].
夏俊杰
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳超盈智能科技有限公司
深圳超盈智能科技有限公司
夏俊杰
;
林华胜
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0
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机构:
深圳超盈智能科技有限公司
深圳超盈智能科技有限公司
林华胜
;
顾红伟
论文数:
0
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机构:
深圳超盈智能科技有限公司
深圳超盈智能科技有限公司
顾红伟
.
中国专利
:CN118937966A
,2024-11-12
[4]
一种芯片测试座
[P].
吴炜奇
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳文治电子有限公司
深圳文治电子有限公司
吴炜奇
.
中国专利
:CN220455365U
,2024-02-06
[5]
一种芯片测试座
[P].
宁丽娟
论文数:
0
引用数:
0
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0
宁丽娟
.
中国专利
:CN215005521U
,2021-12-03
[6]
一种芯片测试座
[P].
闵哲
论文数:
0
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0
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0
闵哲
.
中国专利
:CN213845224U
,2021-07-30
[7]
一种芯片测试座
[P].
王鹤立
论文数:
0
引用数:
0
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0
王鹤立
.
中国专利
:CN208782077U
,2019-04-23
[8]
一种芯片测试座
[P].
冷祥
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
无锡市华辰芯光半导体科技有限公司
无锡市华辰芯光半导体科技有限公司
冷祥
;
刘志华
论文数:
0
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机构:
无锡市华辰芯光半导体科技有限公司
无锡市华辰芯光半导体科技有限公司
刘志华
;
凡皓雪
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
无锡市华辰芯光半导体科技有限公司
无锡市华辰芯光半导体科技有限公司
凡皓雪
.
中国专利
:CN220626594U
,2024-03-19
[9]
一种芯片测试机测试座
[P].
李维繁星
论文数:
0
引用数:
0
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0
李维繁星
.
中国专利
:CN218298295U
,2023-01-13
[10]
一种便于拆卸的芯片测试座
[P].
朴文杰
论文数:
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0
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机构:
苏州奥金斯电子有限公司
苏州奥金斯电子有限公司
朴文杰
;
李雷
论文数:
0
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机构:
苏州奥金斯电子有限公司
苏州奥金斯电子有限公司
李雷
;
李吉
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
苏州奥金斯电子有限公司
苏州奥金斯电子有限公司
李吉
.
中国专利
:CN223679211U
,2025-12-16
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