用于通过光散射测量颗粒尺寸分布的设备和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201280042740.0

申请日：

2012-09-11

公开(公告)号：

CN104067105A

公开(公告)日：

2014-09-24

发明(设计)人：

大卫·斯普里格斯邓肯·斯帝芬森

申请人：

申请人地址：

英国乌斯特郡

IPC主分类号：

G01N1502

IPC分类号：

G01N2149

代理机构：

上海旭诚知识产权代理有限公司 31220

代理人：

郑立;王萍萍

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-04-10	授权	授权
2014-10-22	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101587748226 IPC(主分类):G01N 15/02 专利申请号:2012800427400 申请日:20120911
2014-09-24	公开	公开

共 50 条

[1]

用于激光衍射设备的吸入器适配器和用于测量颗粒尺寸分布的方法 [P].

班诺特·阿达莫 ;

塞亚姆·沙赫 ;

查得·C·斯穆尼 .

中国专利 :CN102355918B ,2012-02-15

[2]

用于判定气溶胶颗粒尺寸的方法和设备 [P].

理查德·诺陈缪斯 .

中国专利 :CN104769412A ,2015-07-08

[3]

通过尺寸排阻色谱法确定颗粒尺寸分布 [P].

奥克萨纳·巴克 ;

塞伊·拉通德-达达 ;

马科斯·特赖克里奥蒂斯 ;

戴维·巴克 .

中国专利 :CN111448448A ,2020-07-24

[4]

用于测量来自液体样品的散射光信号的改善的方法和设备 [P].

S·P·特兰奥弗 .

中国专利 :CN101963579A ,2011-02-02

[5]

用于电子设备的颗粒尺寸分布计算图形用户界面 [P].

黄瑶 ;

田达 ;

薛庆瑞 ;

张子格 ;

温万广 ;

郑曼权 ;

刘楚君 ;

李柯 .

中国专利 :CN309709972S ,2025-12-30

[6]

一种测量散射光空间分布的方法和装置 [P].

劳彩莲 ;

李保国 ;

郭焱 .

中国专利 :CN1657909A ,2005-08-24

[7]

颗粒物光散射测量系统及方法 [P].

宾泽明 ;

刘燕林 ;

文新江 ;

邱致刚 .

中国专利 :CN106018193A ,2016-10-12

[8]

弱散射纳米颗粒的外差动态光散射测量系统及方法 [P].

韩鹏 ;

彭艺 ;

邱健 ;

彭力 ;

骆开庆 ;

刘冬梅 .

中国专利 :CN114577680A ,2022-06-03

[9]

独特颗粒尺寸分布的闪光效果 [P].

F·大巴伽拉 .

中国专利 :CN101189306A ,2008-05-28

[10]

用于测量悬浮在流体中的颗粒的颗粒尺寸的方法和组件 [P].

爱德华·让·雅克·贝罗卡尔 ;

埃利亚斯·维克托·克里斯滕森 .

:CN120112779A ,2025-06-06

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