颗粒物光散射测量系统及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610334706.0
申请日
2016-05-18
公开(公告)号
CN106018193A
公开(公告)日
2016-10-12
发明(设计)人
宾泽明 刘燕林 文新江 邱致刚
申请人
申请人地址
518101 广东省深圳市宝安68区留仙大道1号安通达工业园4栋4楼
IPC主分类号
G01N1500
IPC分类号
G01N1502 G01N1506
代理机构
深圳市舜立知识产权代理事务所(普通合伙) 44335
代理人
李亚萍
法律状态
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共 50 条
[1]
一种颗粒物环形光散射测量装置 [P]. 
曾定章 ;
曾凡凌 .
中国专利 :CN223637335U ,2025-12-05
[2]
光散射装置、颗粒物浓度测量系统和测量方法 [P]. 
敖小强 ;
李永帅 ;
陈景卫 .
中国专利 :CN109655388A ,2019-04-19
[3]
后向散射光烟尘颗粒物浓度测量探头 [P]. 
张建茸 .
中国专利 :CN2752758Y ,2006-01-18
[4]
一种颗粒物光散射信号采集方法及装置 [P]. 
邓田 ;
郑翔 ;
鄢舒 ;
丁振方 ;
徐文波 .
中国专利 :CN119290686A ,2025-01-10
[5]
一种颗粒物光散射信号采集方法及装置 [P]. 
邓田 ;
郑翔 ;
鄢舒 ;
丁振方 ;
徐文波 .
中国专利 :CN119290686B ,2025-09-05
[6]
一种双波长偏振光散射测量颗粒物的方法及装置 [P]. 
曾楠 ;
展东剑 ;
何永红 ;
马辉 .
中国专利 :CN108844865A ,2018-11-20
[7]
一种偏振光散射测量颗粒物的方法及装置 [P]. 
曾楠 ;
李达 ;
马辉 .
中国专利 :CN104089855B ,2014-10-08
[8]
一种基于光散射场的颗粒物粒径分布测量方法及系统 [P]. 
王殊 ;
邓田 ;
陈昂 .
中国专利 :CN110553955A ,2019-12-10
[9]
颗粒物浓度测量系统 [P]. 
郭天祥 .
中国专利 :CN107462502A ,2017-12-12
[10]
颗粒物粒径测量系统和质谱仪 [P]. 
杜绪兵 ;
邓飞 ;
喻佳俊 ;
朱星高 ;
刘平 ;
代新 ;
黄凯彬 ;
刘今朝 ;
陈颖 .
中国专利 :CN111426610A ,2020-07-17