轮廓量测系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201721313038.X

申请日：

2017-10-12

公开(公告)号：

CN207317748U

公开(公告)日：

2018-05-04

发明(设计)人：

陈品均朱信玮林志浩林俞廷

申请人：

申请人地址：

中国台湾高雄市楠梓区高楠公路1001号

IPC主分类号：

G01B1124

IPC分类号：

代理机构：

北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019

代理人：

寿宁;张华辉

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-05-04	授权	授权

共 50 条

[1]

轮廓精度量测系统及量测方法 [P].

曾郁升 ;

吴柏勋 ;

杨宗育 ;

李建毅 .

中国专利 :CN111823057B ,2020-10-27

[2]

量测系统 [P].

孙庆成 ;

余业纬 ;

林廷玮 ;

林哲巨 .

中国专利 :CN105277339B ,2016-01-27

[3]

光学量测系统、光学量测装置及其量测方法 [P].

吴世傑 ;

林典瑩 ;

林辰泰 ;

庄世昌 .

中国专利 :CN109282750B ,2019-01-29

[4]

距离量测方法及系统 [P].

周明宏 ;

谢青峰 .

中国专利 :CN103018745A ,2013-04-03

[5]

光学量测系统 [P].

刘建圣 ;

施玟妤 .

中国专利 :CN117517302A ,2024-02-06

[6]

表面量测系统 [P].

邱奕昌 ;

蔡政廷 ;

潘世耀 ;

杨兰昇 ;

郭修玮 ;

锺绍恩 .

中国专利 :CN109798839A ,2019-05-24

[7]

表面量测系统 [P].

鍾绍恩 ;

蔡政廷 ;

郭修玮 .

中国专利 :CN110319787A ,2019-10-11

[8]

量测卡、量测系统及量测方法 [P].

张育维 ;

杨茆世芳 ;

马天彦 .

中国专利 :CN117804330A ,2024-04-02

[9]

量测手套及量测系统 [P].

张家齐 ;

萧子健 .

中国专利 :CN105455788A ,2016-04-06

[10]

量测系统与量测方法 [P].

张钰林 ;

童凯炀 ;

林茂青 .

中国专利 :CN107966625A ,2018-04-27

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