使用传感器的定量分析方法和定量分析装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010508539.X

申请日：

2002-01-15

公开(公告)号：

CN102012389B

公开(公告)日：

2011-04-13

发明(设计)人：

池滝和雄井上洋一

申请人：

申请人地址：

日本京都

IPC主分类号：

G01N2726

IPC分类号：

G01N27327

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

黄纶伟

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-06-01	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101074691060 IPC(主分类):G01N 27/26 专利申请号:201010508539X 申请日:20020115
2011-04-13	公开	公开
2017-03-08	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101706175632 IPC(主分类):G01N 27/26 专利号:ZL201010508539X 申请日:20020115 授权公告日:20130410 终止日期:20160115
2013-04-10	授权	授权

共 50 条

[1]

使用传感器的定量分析方法和定量分析装置 [P].

池滝和雄 ;

井上洋一 .

中国专利 :CN1486423A ,2004-03-31

[2]

定量分析方法和定量分析装置 [P].

藤部康弘 ;

相本道宏 .

日本专利 :CN119768683A ,2025-04-04

[3]

定量分析方法及定量分析装置 [P].

坂本雄纪 .

日本专利 :CN116087398B ,2025-04-08

[4]

定量分析方法及び定量分析装置[ja] [P].

日本专利 :JP7694342B2 ,2025-06-18

[5]

定量分析方法 [P].

朴喜用 ;

郭修荣 ;

赵惠星 .

中国专利 :CN107340309A ,2017-11-10

[6]

定量分析方法 [P].

朱爱淑 ;

刘海军 ;

徐友海 ;

王秀萍 ;

袁伟 .

中国专利 :CN105699499A ,2016-06-22

[7]

定量分析方法、定量分析程序和荧光X射线分析装置 [P].

片冈由行 ;

日下部宁 .

中国专利 :CN114787616A ,2022-07-22

[8]

微量碳定量分析装置和微量碳定量分析方法 [P].

田中裕二 ;

山下孝子 ;

名越正泰 .

中国专利 :CN107004556A ,2017-08-01

[9]

晶相定量分析装置、晶相定量分析方法及晶相定量分析程序 [P].

虎谷秀穂 ;

室山知宏 .

中国专利 :CN111033246A ,2020-04-17

[10]

结晶相定量分析装置、结晶相定量分析方法、以及结晶相定量分析程序 [P].

虎谷秀穗 ;

姬田章宏 .

中国专利 :CN109073574A ,2018-12-21

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