定量分析方法、定量分析程序和荧光X射线分析装置

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申请号
CN202080086958.0
申请日
2020-12-04
公开(公告)号
CN114787616A
公开(公告)日
2022-07-22
发明(设计)人
片冈由行 日下部宁
申请人
申请人地址
日本国东京都昭岛市松原町3丁目9番12号
IPC主分类号
G01N23223
IPC分类号
代理机构
北京瑞盟知识产权代理有限公司 11300
代理人
刘昕;孟祥海
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
定量分析方法、定量分析程序及荧光X射线分析装置 [P]. 
田中伸 .
中国专利 :CN112930478A ,2021-06-08
[2]
定量分析方法和定量分析装置 [P]. 
藤部康弘 ;
相本道宏 .
日本专利 :CN119768683A ,2025-04-04
[3]
定量分析方法及定量分析装置 [P]. 
坂本雄纪 .
日本专利 :CN116087398B ,2025-04-08
[4]
晶相定量分析装置、晶相定量分析方法及晶相定量分析程序 [P]. 
虎谷秀穂 ;
室山知宏 .
中国专利 :CN111033246A ,2020-04-17
[5]
结晶相定量分析装置、结晶相定量分析方法、以及结晶相定量分析程序 [P]. 
虎谷秀穗 ;
姬田章宏 .
中国专利 :CN109073574A ,2018-12-21
[6]
定量分析方法及び定量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7694342B2 ,2025-06-18
[7]
定量分析方法 [P]. 
朴喜用 ;
郭修荣 ;
赵惠星 .
中国专利 :CN107340309A ,2017-11-10
[8]
定量分析方法 [P]. 
朱爱淑 ;
刘海军 ;
徐友海 ;
王秀萍 ;
袁伟 .
中国专利 :CN105699499A ,2016-06-22
[9]
微量碳定量分析装置和微量碳定量分析方法 [P]. 
田中裕二 ;
山下孝子 ;
名越正泰 .
中国专利 :CN107004556A ,2017-08-01
[10]
使用传感器的定量分析方法和定量分析装置 [P]. 
池滝和雄 ;
井上洋一 .
中国专利 :CN102012389B ,2011-04-13