一种便于更换针头的ICT测试探针

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申请号
CN202122877181.4
申请日
2021-11-23
公开(公告)号
CN216485185U
公开(公告)日
2022-05-10
发明(设计)人
黄利红
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市宝安区燕罗街道燕川社区燕山大道3号F栋厂房401
IPC主分类号
G01R1067
IPC分类号
代理机构
北京中仟知识产权代理事务所(普通合伙) 11825
代理人
周庆佳
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种ICT测试探针 [P]. 
沈芳珍 ;
周燕明 .
中国专利 :CN201993392U ,2011-09-28
[2]
测试探针头 [P]. 
白承夏 .
韩国专利 :CN309370168S ,2025-07-04
[3]
测试探针头 [P]. 
白承夏 .
韩国专利 :CN309364265S ,2025-07-01
[4]
一种便于更换的半导体测试探针 [P]. 
王睿 .
中国专利 :CN214041489U ,2021-08-24
[5]
一种便于更换的半导体测试探针 [P]. 
尤红权 .
中国专利 :CN221765551U ,2024-09-24
[6]
一种针头插接固定的测试探针 [P]. 
曹会杰 .
中国专利 :CN221782334U ,2024-09-27
[7]
一种新型组装式ICT测试探针 [P]. 
黄利红 .
中国专利 :CN216696422U ,2022-06-07
[8]
一种便于使用的测试探针 [P]. 
汪旭东 ;
刘正君 ;
洪涛 ;
郭剑 ;
谢石坤 .
中国专利 :CN212693885U ,2021-03-12
[9]
一种电阻率测试探针头 [P]. 
邵倩倩 ;
相宇阳 ;
俞胜武 .
中国专利 :CN223139669U ,2025-07-22
[10]
一种可快速更换的测试探针 [P]. 
曹会杰 .
中国专利 :CN221782333U ,2024-09-27