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一种便于更换针头的ICT测试探针
被引:0
申请号
:
CN202122877181.4
申请日
:
2021-11-23
公开(公告)号
:
CN216485185U
公开(公告)日
:
2022-05-10
发明(设计)人
:
黄利红
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市宝安区燕罗街道燕川社区燕山大道3号F栋厂房401
IPC主分类号
:
G01R1067
IPC分类号
:
代理机构
:
北京中仟知识产权代理事务所(普通合伙) 11825
代理人
:
周庆佳
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-05-10
授权
授权
共 50 条
[1]
一种ICT测试探针
[P].
沈芳珍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
沈芳珍
;
周燕明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周燕明
.
中国专利
:CN201993392U
,2011-09-28
[2]
测试探针头
[P].
白承夏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
李诺工业股份有限公司
李诺工业股份有限公司
白承夏
.
韩国专利
:CN309370168S
,2025-07-04
[3]
测试探针头
[P].
白承夏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
李诺工业股份有限公司
李诺工业股份有限公司
白承夏
.
韩国专利
:CN309364265S
,2025-07-01
[4]
一种便于更换的半导体测试探针
[P].
王睿
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王睿
.
中国专利
:CN214041489U
,2021-08-24
[5]
一种便于更换的半导体测试探针
[P].
尤红权
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南通国和半导体设备有限公司
南通国和半导体设备有限公司
尤红权
.
中国专利
:CN221765551U
,2024-09-24
[6]
一种针头插接固定的测试探针
[P].
曹会杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华杰智能科技(苏州)有限公司
华杰智能科技(苏州)有限公司
曹会杰
.
中国专利
:CN221782334U
,2024-09-27
[7]
一种新型组装式ICT测试探针
[P].
黄利红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄利红
.
中国专利
:CN216696422U
,2022-06-07
[8]
一种便于使用的测试探针
[P].
汪旭东
论文数:
0
引用数:
0
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0
汪旭东
;
刘正君
论文数:
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引用数:
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刘正君
;
洪涛
论文数:
0
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0
洪涛
;
郭剑
论文数:
0
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0
郭剑
;
谢石坤
论文数:
0
引用数:
0
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谢石坤
.
中国专利
:CN212693885U
,2021-03-12
[9]
一种电阻率测试探针头
[P].
邵倩倩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
无锡卓海科技股份有限公司
无锡卓海科技股份有限公司
邵倩倩
;
相宇阳
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
无锡卓海科技股份有限公司
无锡卓海科技股份有限公司
相宇阳
;
俞胜武
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
无锡卓海科技股份有限公司
无锡卓海科技股份有限公司
俞胜武
.
中国专利
:CN223139669U
,2025-07-22
[10]
一种可快速更换的测试探针
[P].
曹会杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
华杰智能科技(苏州)有限公司
华杰智能科技(苏州)有限公司
曹会杰
.
中国专利
:CN221782333U
,2024-09-27
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