一种具有扫描链的集成电路和芯片测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910110751.8

申请日：

2009-10-12

公开(公告)号：

CN102043124A

公开(公告)日：

2011-05-04

发明(设计)人：

谢武洪

申请人：

申请人地址：

519085 广东省珠海市唐家湾镇哈工大路1号15栋-A101

IPC主分类号：

G01R313185

IPC分类号：

代理机构：

深圳中一专利商标事务所 44237

代理人：

贾振勇

法律状态：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-22	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01R 31/3185 变更事项:专利权人变更前:炬芯(珠海)科技有限公司变更后:炬芯科技股份有限公司变更事项:地址变更前:519085 广东省珠海市唐家湾镇高新区科技四路1号1#厂房一层C区变更后:519085 广东省珠海市唐家湾镇高新区科技四路1号1#厂房一层C区
2014-12-31	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101709388202 IPC(主分类):G01R 31/3185 专利号:ZL2009101107518 变更事项:专利权人变更前权利人:炬力集成电路设计有限公司变更后权利人:炬芯(珠海)科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:519085 广东省珠海市唐家湾镇哈工大路1号15栋-A101 变更后权利人:519085 广东省珠海市唐家湾镇高新区科技四路1号1#厂房一层C区登记生效日:20141215
2011-06-15	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101080111011 IPC(主分类):G01R 31/3185 专利申请号:2009101107518 申请日:20091012
2011-05-04	公开	公开
2013-07-17	授权	授权

共 50 条

[1]

具有分区扫描链的集成电路的扫描测试中的增强控制 [P].

A·D·黑尔斯 ;

S·K·纳基蒂 ;

R·A·帕雷克吉 ;

S·拉维 ;

R·K·蒂瓦里 .

中国专利 :CN102576050A ,2012-07-11

[2]

集成电路、操作集成电路的方法和具有集成电路的装置 [P].

金范柱 .

中国专利 :CN104422878A ,2015-03-18

[3]

集成电路扫描测试的方法及系统 [P].

杨文彬 ;

万郁葱 ;

陈志军 .

中国专利 :CN113589153A ,2021-11-02

[4]

集成电路中的扫描链 [P].

N·N·帕里克 ;

P·蒂瓦里 ;

A·杜贝 .

中国专利 :CN104937668A ,2015-09-23

[5]

一种集成电路的扫描测试装置 [P].

樊光锋 ;

王金富 ;

邱进超 ;

吴睿振 ;

贠文佳 .

中国专利 :CN111766505A ,2020-10-13

[6]

一种防止利用扫描链攻击集成电路芯片的动态混淆扫描链结构 [P].

王晓晓 ;

张东嵘 ;

苏东林 ;

陈爱新 .

中国专利 :CN106646203A ,2017-05-10

[7]

集成电路中扫描链的确定方法、集成电路、设备及介质 [P].

田金峰 ;

马卓 .

中国专利 :CN119203872A ,2024-12-27

[8]

一种高安全性的芯片扫描链测试模式电路及进入方法 [P].

李昌盛 ;

黄嵩人 ;

李卓 ;

聂仲武 ;

谢城芳 .

中国专利 :CN119125859A ,2024-12-13

[9]

集成电路的复合扫描单元 [P].

雷绍充 ;

曾永甲 ;

孙海珺 .

中国专利 :CN101533069B ,2009-09-16

[10]

一种集成电路芯片测试接口板 [P].

王杨 ;

王骏卿 .

中国专利 :CN208506197U ,2019-02-15

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