集成电路中的扫描链

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201480004861.5
申请日
2014-01-21
公开(公告)号
CN104937668A
公开(公告)日
2015-09-23
发明(设计)人
N·N·帕里克 P·蒂瓦里 A·杜贝
申请人
申请人地址
美国德克萨斯州
IPC主分类号
G11C2912
IPC分类号
G06F11267 G01R313185
代理机构
北京纪凯知识产权代理有限公司 11245
代理人
赵蓉民;赵志刚
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
集成电路中扫描链的确定方法、集成电路、设备及介质 [P]. 
田金峰 ;
马卓 .
中国专利 :CN119203872A ,2024-12-27
[2]
逻辑集成电路中扫描链的故障定位方法 [P]. 
李俊 ;
任志彬 ;
杨明昌 ;
陈宏杰 .
中国专利 :CN1255869C ,2004-09-22
[3]
集成电路中的动态扫描链重新配置 [P]. 
P·T·肖杜里 .
中国专利 :CN110622016A ,2019-12-27
[4]
具有分区扫描链的集成电路的扫描测试中的增强控制 [P]. 
A·D·黑尔斯 ;
S·K·纳基蒂 ;
R·A·帕雷克吉 ;
S·拉维 ;
R·K·蒂瓦里 .
中国专利 :CN102576050A ,2012-07-11
[5]
在集成电路的可编程资源中实施扫描链的电路 [P]. 
B·S·德夫林 ;
R·C·卡马洛塔 .
中国专利 :CN206788623U ,2017-12-22
[6]
能够进行安全扫描的集成电路 [P]. 
郝萍莉 ;
张旺根 .
中国专利 :CN106556792B ,2017-04-05
[7]
集成电路的复合扫描单元 [P]. 
雷绍充 ;
曾永甲 ;
孙海珺 .
中国专利 :CN101533069B ,2009-09-16
[8]
集成电路和指定集成电路的方法 [P]. 
M·帕德福克 ;
T·勒 ;
T·普夫吕格尔 ;
S·邦塞尔斯 .
中国专利 :CN101144847A ,2008-03-19
[9]
数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路 [P]. 
蒋知广 ;
张忠 .
中国专利 :CN115078978A ,2022-09-20
[10]
数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路 [P]. 
蒋知广 ;
张忠 .
中国专利 :CN115078978B ,2025-04-01