逻辑集成电路中扫描链的故障定位方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN03119376.5

申请日：

2003-03-14

公开(公告)号：

CN1255869C

公开(公告)日：

2004-09-22

发明(设计)人：

李俊任志彬杨明昌陈宏杰

申请人：

申请人地址：

台湾省新竹市

IPC主分类号：

H01L2166

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

北京纪凯知识产权代理有限公司

代理人：

戈泊;程伟

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2004-12-01	实质审查的生效	实质审查的生效
2006-05-10	授权	授权
2004-09-22	公开	公开
2005-05-11	专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移	专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移变更事项:申请人变更前权利人:矽统科技股份有限公司变更后权利人:联华电子股份有限公司变更事项:地址变更前权利人:台湾省新竹科学工业园区研新一路16号变更后权利人:台湾省新竹市登记生效日:20050408

共 50 条

[1]

集成电路中的扫描链 [P].

N·N·帕里克 ;

P·蒂瓦里 ;

A·杜贝 .

中国专利 :CN104937668A ,2015-09-23

[2]

集成电路中扫描链的确定方法、集成电路、设备及介质 [P].

田金峰 ;

马卓 .

中国专利 :CN119203872A ,2024-12-27

[3]

集成电路中的动态扫描链重新配置 [P].

P·T·肖杜里 .

中国专利 :CN110622016A ,2019-12-27

[4]

具有分区扫描链的集成电路的扫描测试中的增强控制 [P].

A·D·黑尔斯 ;

S·K·纳基蒂 ;

R·A·帕雷克吉 ;

S·拉维 ;

R·K·蒂瓦里 .

中国专利 :CN102576050A ,2012-07-11

[5]

在集成电路的可编程资源中实施扫描链的电路 [P].

B·S·德夫林 ;

R·C·卡马洛塔 .

中国专利 :CN206788623U ,2017-12-22

[6]

逻辑电路、含逻辑电路的集成电路和操作集成电路的方法 [P].

丁亨洙 ;

金镐正 ;

崔贤植 .

中国专利 :CN102647180A ,2012-08-22

[7]

集成电路及在集成电路中建立扫描测试架构的方法 [P].

任建国 ;

戴冲 ;

高峰国 ;

黄上宾 ;

薛文皓 .

中国专利 :CN104950241A ,2015-09-30

[8]

数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路 [P].

蒋知广 ;

张忠 .

中国专利 :CN115078978A ,2022-09-20

[9]

数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路 [P].

蒋知广 ;

张忠 .

中国专利 :CN115078978B ,2025-04-01

[10]

集成电路的复合扫描单元 [P].

雷绍充 ;

曾永甲 ;

孙海珺 .

中国专利 :CN101533069B ,2009-09-16

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