数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110264997.1

申请日：

2021-03-11

公开(公告)号：

CN115078978B

公开(公告)日：

2025-04-01

发明(设计)人：

蒋知广张忠

申请人：

上海艾为电子技术股份有限公司

申请人地址：

201199 上海市闵行区秀文路908弄2号1201室

IPC主分类号：

G01R31/3185

IPC分类号：

代理机构：

北京合智同创知识产权代理有限公司 11545

代理人：

李杰

法律状态：

授权

国省代码：

上海市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-01	授权	授权

共 50 条

[1]

数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路 [P].

蒋知广 ;

张忠 .

中国专利 :CN115078978A ,2022-09-20

[2]

数字集成电路 [P].

伯纳达斯·亨利卡斯·约瑟夫·科奈利森 .

中国专利 :CN1032985A ,1989-05-17

[3]

数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P].

陈良 ;

郭宪超 ;

石培杰 ;

姚健 .

中国专利 :CN112526321A ,2021-03-19

[4]

数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P].

陈良 ;

郭宪超 ;

石培杰 ;

姚健 .

中国专利 :CN112526321B ,2025-03-18

[5]

数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P].

陈良 ;

郭宪超 ;

石培杰 ;

姚健 .

中国专利 :CN213780287U ,2021-07-23

[6]

单块数字集成电路 [P].

阿诺德·尤兰霍夫 .

中国专利 :CN86101674A ,1987-02-25

[7]

简易数字集成电路测试器 [P].

周宇怀 .

中国专利 :CN1060719A ,1992-04-29

[8]

简易数字集成电路测试器 [P].

周宇怀 .

中国专利 :CN2080678U ,1991-07-10

[9]

数字集成电路的设计方法 [P].

朱佳辉 ;

葛菲 ;

黄慧宇 .

中国专利 :CN113723045B ,2025-09-16

[10]

数字集成电路的设计方法 [P].

朱佳辉 ;

葛菲 ;

黄慧宇 .

中国专利 :CN113723045A ,2021-11-30

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