数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011424544.2

申请日：

2020-12-08

公开(公告)号：

CN112526321B

公开(公告)日：

2025-03-18

发明(设计)人：

陈良郭宪超石培杰姚健

申请人：

北京华峰测控技术股份有限公司

申请人地址：

100071 北京市丰台区海鹰路1号院2号楼7层

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

北京华进京联知识产权代理有限公司 11606

代理人：

魏朋

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-18	授权	授权

共 50 条

[1]

数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P].

陈良 ;

郭宪超 ;

石培杰 ;

姚健 .

中国专利 :CN112526321A ,2021-03-19

[2]

数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P].

陈良 ;

郭宪超 ;

石培杰 ;

姚健 .

中国专利 :CN213780287U ,2021-07-23

[3]

电源转换电路、数字集成电路测试系统 [P].

杨钊辉 ;

钟锋浩 ;

袁晓航 .

中国专利 :CN111830393A ,2020-10-27

[4]

电源转换电路、数字集成电路测试系统 [P].

杨钊辉 ;

钟锋浩 ;

袁晓航 .

中国专利 :CN212845756U ,2021-03-30

[5]

数字集成电路通用测试装置 [P].

赖邵冕 ;

张峰 ;

郭嘉萍 .

中国专利 :CN216560878U ,2022-05-17

[6]

数字集成电路 [P].

伯纳达斯·亨利卡斯·约瑟夫·科奈利森 .

中国专利 :CN1032985A ,1989-05-17

[7]

多时钟域的数字测试电路、数字集成电路测试系统 [P].

赵阳 ;

钟锋浩 .

中国专利 :CN212460415U ,2021-02-02

[8]

数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路 [P].

蒋知广 ;

张忠 .

中国专利 :CN115078978A ,2022-09-20

[9]

数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路 [P].

蒋知广 ;

张忠 .

中国专利 :CN115078978B ,2025-04-01

[10]

多时钟域的数字测试电路、数字集成电路测试系统 [P].

赵阳 ;

钟锋浩 .

中国专利 :CN111913522A ,2020-11-10

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