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数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202011424544.2
申请日：
2020-12-08
公开(公告)号：
CN112526321A
公开(公告)日：
2021-03-19
发明(设计)人：
陈良 郭宪超 石培杰 姚健
申请人：
申请人地址：
100071 北京市丰台区海鹰路1号院2号楼7层
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
北京华进京联知识产权代理有限公司 11606
代理人：
魏朋
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-04-06 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20201208
2021-03-19 公开 公开
共 50 条
[1]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P]. 
陈良 ;
郭宪超 ;
石培杰 ;
姚健 .
中国专利 :CN112526321B ,2025-03-18
[2]
数字集成电路测试装置和数字集成电路测试系统 [P]. 
陈良 ;
郭宪超 ;
石培杰 ;
姚健 .
中国专利 :CN213780287U ,2021-07-23
[3]
电源转换电路、数字集成电路测试系统 [P]. 
杨钊辉 ;
钟锋浩 ;
袁晓航 .
中国专利 :CN111830393A ,2020-10-27
[4]
电源转换电路、数字集成电路测试系统 [P]. 
杨钊辉 ;
钟锋浩 ;
袁晓航 .
中国专利 :CN212845756U ,2021-03-30
[5]
数字集成电路通用测试装置 [P]. 
赖邵冕 ;
张峰 ;
郭嘉萍 .
中国专利 :CN216560878U ,2022-05-17
[6]
数字集成电路 [P]. 
伯纳达斯·亨利卡斯·约瑟夫·科奈利森 .
中国专利 :CN1032985A ,1989-05-17
[7]
多时钟域的数字测试电路、数字集成电路测试系统 [P]. 
赵阳 ;
钟锋浩 .
中国专利 :CN212460415U ,2021-02-02
[8]
数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路 [P]. 
蒋知广 ;
张忠 .
中国专利 :CN115078978A ,2022-09-20
[9]
数字集成电路的扫描链测试方法、系统及数字集成电路 [P]. 
蒋知广 ;
张忠 .
中国专利 :CN115078978B ,2025-04-01
[10]
多时钟域的数字测试电路、数字集成电路测试系统 [P]. 
赵阳 ;
钟锋浩 .
中国专利 :CN111913522A ,2020-11-10
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