能够进行安全扫描的集成电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201511010626.1

申请日：

2015-09-28

公开(公告)号：

CN106556792B

公开(公告)日：

2017-04-05

发明(设计)人：

郝萍莉张旺根

申请人：

申请人地址：

美国得克萨斯

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038

代理人：

吴信刚

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-04-05	公开	公开
2018-10-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20150928
2021-03-19	授权	授权
2017-11-21	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01R 31/28 变更事项:申请人变更前:飞思卡尔半导体公司变更后:恩智浦美国有限公司变更事项:地址变更前:美国得克萨斯变更后:美国得克萨斯

共 50 条

[1]

集成电路中的扫描链 [P].

N·N·帕里克 ;

P·蒂瓦里 ;

A·杜贝 .

中国专利 :CN104937668A ,2015-09-23

[2]

集成电路的复合扫描单元 [P].

雷绍充 ;

曾永甲 ;

孙海珺 .

中国专利 :CN101533069B ,2009-09-16

[3]

集成电路扫描测试的方法及系统 [P].

杨文彬 ;

万郁葱 ;

陈志军 .

中国专利 :CN113589153A ,2021-11-02

[4]

集成电路中扫描链的确定方法、集成电路、设备及介质 [P].

田金峰 ;

马卓 .

中国专利 :CN119203872A ,2024-12-27

[5]

集成电路扫描测试系统及设备 [P].

杨文彬 ;

万郁葱 ;

陈志军 .

中国专利 :CN117420412A ,2024-01-19

[6]

安全的集成电路 [P].

M·利萨特 ;

N·博瑞尔 .

中国专利 :CN106558581B ,2017-04-05

[7]

能够生成用于扫描测试的测试模式控制信号的集成电路 [P].

R·米塔尔 ;

P·萨巴瑞瓦 ;

P·纳拉亚南 ;

R·A·帕瑞克基 .

中国专利 :CN104321655B ,2015-01-28

[8]

集成电路的测试 [P].

L·M·A·范德洛特 ;

T·F·瓦耶斯 ;

F·范德海登 .

中国专利 :CN1748154A ,2006-03-15

[9]

集成电路以及确保集成电路安全的方法 [P].

尤佛·科斯纳尔 ;

塔米尔·葛兰 ;

日弗·赫诗曼 .

中国专利 :CN120408594A ,2025-08-01

[10]

具有分区扫描链的集成电路的扫描测试中的增强控制 [P].

A·D·黑尔斯 ;

S·K·纳基蒂 ;

R·A·帕雷克吉 ;

S·拉维 ;

R·K·蒂瓦里 .

中国专利 :CN102576050A ,2012-07-11

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