能够生成用于扫描测试的测试模式控制信号的集成电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201380022743.2

申请日：

2013-05-10

公开(公告)号：

CN104321655B

公开(公告)日：

2015-01-28

发明(设计)人：

R·米塔尔 P·萨巴瑞瓦 P·纳拉亚南 R·A·帕瑞克基

申请人：

申请人地址：

美国德克萨斯州

IPC主分类号：

G01R313185

IPC分类号：

代理机构：

北京纪凯知识产权代理有限公司 11245

代理人：

赵蓉民

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-06-17	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101613172466 IPC(主分类):G01R 31/3185 专利申请号:2013800227432 申请日:20130510
2017-04-05	授权	授权
2015-01-28	公开	公开
2021-03-16	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01R 31/3185 登记生效日:20210303 变更事项:专利权人变更前权利人:德克萨斯仪器股份有限公司变更后权利人:德克萨斯仪器股份有限公司变更事项:地址变更前权利人:美国德克萨斯州变更后权利人:美国德克萨斯州变更事项:专利权人变更前权利人:德克萨斯仪器日本有限公司

共 50 条

[1]

集成电路的测试 [P].

L·M·A·范德洛特 ;

T·F·瓦耶斯 ;

F·范德海登 .

中国专利 :CN1748154A ,2006-03-15

[2]

用于集成电路的非常低电压和偏置的扫描测试的测试电路 [P].

张旺根 ;

丁黄胜 ;

吴建舟 .

中国专利 :CN105891703A ,2016-08-24

[3]

集成电路扫描测试系统及设备 [P].

杨文彬 ;

万郁葱 ;

陈志军 .

中国专利 :CN117420412A ,2024-01-19

[4]

内部生成用于集成电路装置中进行测试的模式 [P].

A·E·翁 .

中国专利 :CN101548337A ,2009-09-30

[5]

集成电路扫描测试的方法及系统 [P].

杨文彬 ;

万郁葱 ;

陈志军 .

中国专利 :CN113589153A ,2021-11-02

[6]

用于集成电路测试的低功率且面积优化的扫描单元 [P].

R·C·泰库玛拉 ;

P·库玛 ;

P·克里施纳莫斯 ;

P·迈德哈尼 .

中国专利 :CN102692599A ,2012-09-26

[7]

具扫描测试的集成电路及其测试方法 [P].

周文华 ;

傅国尧 ;

李冠仑 ;

曾才旺 .

中国专利 :CN106526463A ,2017-03-22

[8]

具有分区扫描链的集成电路的扫描测试中的增强控制 [P].

A·D·黑尔斯 ;

S·K·纳基蒂 ;

R·A·帕雷克吉 ;

S·拉维 ;

R·K·蒂瓦里 .

中国专利 :CN102576050A ,2012-07-11

[9]

集成电路测试的压缩测试计划生成、测试序列生成和测试 [P].

细川利典 ;

伊達博 ;

村岡道明 .

中国专利 :CN1266585C ,2003-05-28

[10]

可测试集成电路 [P].

史蒂文·H·德库柏 ;

格雷姆·弗朗西斯 .

中国专利 :CN101052887A ,2007-10-10

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