可测试集成电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200580037881.3

申请日：

2005-10-28

公开(公告)号：

CN101052887A

公开(公告)日：

2007-10-10

发明(设计)人：

史蒂文·H·德库柏格雷姆·弗朗西斯

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

G01R313185

IPC分类号：

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

朱进桂

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-10-18	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/3185 申请日:20051028 授权公告日:20100512 终止日期:20181028
2007-10-10	公开	公开
2008-04-23	专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)	专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移) 变更事项:申请人变更前权利人:皇家飞利浦电子股份有限公司变更后权利人:NXP股份有限公司变更事项:地址变更前权利人:荷兰艾恩德霍芬变更后权利人:荷兰艾恩德霍芬登记生效日:20080328
2015-09-30	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101721532396 IPC(主分类):G01R 31/3185 专利号:ZL2005800378813 变更事项:专利权人变更前权利人:NXP股份有限公司变更后权利人:III 控股6有限责任公司变更事项:地址变更前权利人:荷兰艾恩德霍芬变更后权利人:美国特拉华州登记生效日:20150908
2010-05-12	授权	授权
2008-01-09	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

可测试的集成电路及集成电路的测试方法 [P].

桑迪普库马尔·戈埃尔 ;

何塞德耶稣·皮内达德干维兹 ;

伦泽·I·M·P·迈耶 .

中国专利 :CN101365956A ,2009-02-11

[2]

集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[3]

可测试的集成电路及测试方法 [P].

劳伦·苏埃夫 ;

埃曼努埃尔·艾里 .

中国专利 :CN101688896A ,2010-03-31

[4]

可测试集成电路和IC测试方法 [P].

何塞普·里乌斯·巴斯克斯 ;

路易斯·埃尔维拉·比利亚格拉 ;

林兹·I·M·P·迈耶 .

中国专利 :CN101512361B ,2009-08-19

[5]

集成电路测试座及集成电路测试装置 [P].

程振 ;

李志雄 ;

刘旭 ;

王平 ;

燕祖德 .

中国专利 :CN214375125U ,2021-10-08

[6]

集成电路测试的预处理集成电路 [P].

I·W·J·M·鲁特坦 .

中国专利 :CN100541216C ,2005-02-16

[7]

集成电路的测试电路 [P].

施浩 .

中国专利 :CN2844936Y ,2006-12-06

[8]

集成电路测试设备 [P].

周茂林 .

中国专利 :CN305732987S ,2020-04-24

[9]

高速集成电路测试 [P].

D·M·拉贾戈帕 ;

N·米什拉 .

中国专利 :CN114764117A ,2022-07-19

[10]

集成电路测试卡 [P].

范宏光 .

中国专利 :CN100565218C ,2007-08-22

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