集成电路的测试电路

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200520122304.1

申请日：

2005-08-23

公开(公告)号：

CN2844936Y

公开(公告)日：

2006-12-06

发明(设计)人：

施浩

申请人：

申请人地址：

英属开曼群岛大开曼

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司

代理人：

陈亮

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2006-12-06	授权	授权
2015-09-23	专利权的终止	专利权有效期届满号牌文件类型代码:1611 号牌文件序号:101627543104 IPC(主分类):G01R 31/28 专利号:ZL2005201223041 申请日:20050823 授权公告日:20061206 期满终止日期:20150823
2009-01-14	专利实施许可合同的备案	专利实施许可合同的备案合同备案号:2008990000584 让与人:BCD半导体制造有限公司受让人:上海新进半导体制造有限公司发明名称:集成电路的测试电路申请日:20050823 授权公告日:20061206 许可种类:独占许可备案日期:2008.10.8 合同履行期限:2006.11.20至2012.11.19合同变更
2008-08-06	专利实施许可合同的备案	专利实施许可合同的备案合同备案号:2008990000120 让与人:BCD半导体制造有限公司受让人:上海新进半导体制造有限公司发明名称:集成电路的测试电路申请日:20050823 授权公告日:20061206 许可种类:独占许可备案日期:2008.6.13 合同履行期限:2008.5.27至2015.8.22合同变更

共 50 条

[1]

测试控制电路和集成电路芯片测试电路 [P].

黄泽群 .

中国专利 :CN209086390U ,2019-07-09

[2]

测试电路、集成电路及其测试方法 [P].

西田治雄 ;

石田卓也 .

中国专利 :CN1519576A ,2004-08-11

[3]

测试控制电路及方法、集成电路芯片测试电路 [P].

黄泽群 .

中国专利 :CN111103523A ,2020-05-05

[4]

集成电路的测试系统 [P].

连高城 ;

叶剑文 ;

赵静一 .

中国专利 :CN208607321U ,2019-03-15

[5]

集成电路测试板的可调电源以及集成电路测试板 [P].

杨钊辉 ;

钟锋浩 ;

袁晓航 .

中国专利 :CN112114246A ,2020-12-22

[6]

集成电路测试板的可调电源以及集成电路测试板 [P].

杨钊辉 ;

钟锋浩 ;

袁晓航 .

中国专利 :CN213633703U ,2021-07-06

[7]

集成电路测试的预处理集成电路 [P].

I·W·J·M·鲁特坦 .

中国专利 :CN100541216C ,2005-02-16

[8]

集成电路中的集成测试电路 [P].

G·弗兰科维斯基 ;

R·凯塞 .

中国专利 :CN1523368A ,2004-08-25

[9]

集成电路通用测试电路装置 [P].

汪海潮 ;

林峰 ;

姜龙 ;

唐欣 .

中国专利 :CN220913293U ,2024-05-07

[10]

高速集成电路测试 [P].

D·M·拉贾戈帕 ;

N·米什拉 .

中国专利 :CN114764117A ,2022-07-19

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