测试电路、集成电路及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200410039378.9

申请日：

2004-01-30

公开(公告)号：

CN1519576A

公开(公告)日：

2004-08-11

发明(设计)人：

西田治雄石田卓也

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G06F1750

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司

代理人：

余刚

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2004-08-11	公开	公开
2004-10-20	实质审查的生效	实质审查的生效
2007-04-04	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回

共 50 条

[1]

集成电路的测试电路 [P].

施浩 .

中国专利 :CN2844936Y ,2006-12-06

[2]

测试电路、集成电路及测试方法 [P].

西田治雄 ;

石田卓也 .

中国专利 :CN1519575A ,2004-08-11

[3]

测试电路、集成电路、以及测试电路布局方法 [P].

小川和久 .

中国专利 :CN102867760A ,2013-01-09

[4]

测试控制电路及方法、集成电路芯片测试电路 [P].

黄泽群 .

中国专利 :CN111103523A ,2020-05-05

[5]

半导体集成电路及其测试方法 [P].

富永正志 .

中国专利 :CN1248101A ,2000-03-22

[6]

测试控制电路和集成电路芯片测试电路 [P].

黄泽群 .

中国专利 :CN209086390U ,2019-07-09

[7]

集成电路芯片及其测试方法 [P].

A·加蒂克 ;

P·奈伊 ;

L·帕斯泰尔 ;

J·范霍恩 ;

P·S·祖霍斯基 ;

S·F·奥克兰 .

中国专利 :CN100337385C ,2005-12-28

[8]

集成电路及其测试方法 [P].

林树森 .

中国专利 :CN103116123A ,2013-05-22

[9]

集成电路及其测试方法 [P].

郑升炫 .

韩国专利 :CN114113971B ,2025-03-28

[10]

集成电路及其测试方法 [P].

横田俊彦 .

中国专利 :CN1963552A ,2007-05-16

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