集成电路及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610143641.8

申请日：

2006-11-06

公开(公告)号：

CN1963552A

公开(公告)日：

2007-05-16

发明(设计)人：

横田俊彦

申请人：

申请人地址：

美国纽约

IPC主分类号：

G01R313185

IPC分类号：

G01R3128 G01R313187 H01L2704

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所

代理人：

曲瑞

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2007-05-16	公开	公开
2009-10-07	授权	授权
2016-12-21	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101693218115 IPC(主分类):G01R 31/3185 专利号:ZL2006101436418 申请日:20061106 授权公告日:20091007 终止日期:20151106
2007-07-11	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

测试电路、集成电路及其测试方法 [P].

西田治雄 ;

石田卓也 .

中国专利 :CN1519576A ,2004-08-11

[2]

集成电路及其测试方法 [P].

林树森 .

中国专利 :CN103116123A ,2013-05-22

[3]

集成电路及其测试方法 [P].

郑升炫 .

韩国专利 :CN114113971B ,2025-03-28

[4]

集成电路及其测试方法 [P].

林明燕 ;

王梓百 ;

翁宏启 .

中国专利 :CN117630632A ,2024-03-01

[5]

集成电路及其测试方法 [P].

张华享 ;

大元文一 .

中国专利 :CN111081645B ,2020-04-28

[6]

集成电路及其测试方法 [P].

郑升炫 .

中国专利 :CN114113971A ,2022-03-01

[7]

集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[8]

集成电路测试方法及其相关电路 [P].

江忠信 .

中国专利 :CN101387685A ,2009-03-18

[9]

集成电路测试设备及其测试方法 [P].

汝峰 ;

张洋洋 ;

陈轶 ;

王梦达 .

中国专利 :CN115078971B ,2025-10-10

[10]

集成电路测试设备及其测试方法 [P].

汝峰 ;

张洋洋 ;

陈轶 ;

王梦达 .

中国专利 :CN115078971A ,2022-09-20

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