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集成电路及其测试方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110189249.1
申请日：
2021-02-19
公开(公告)号：
CN114113971B
公开(公告)日：
2025-03-28
发明(设计)人：
郑升炫
申请人：
爱思开海力士有限公司
申请人地址：
韩国京畿道
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人：
刘久亮;黄纶伟
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-03-28 授权 授权
共 50 条
[1]
集成电路及其测试方法 [P]. 
郑升炫 .
中国专利 :CN114113971A ,2022-03-01
[2]
集成电路及其测试操作方法 [P]. 
郑升炫 .
中国专利 :CN114113972A ,2022-03-01
[3]
集成电路及其测试操作方法 [P]. 
郑升炫 .
韩国专利 :CN114113972B ,2025-01-24
[4]
集成电路测试设备及其测试方法 [P]. 
汝峰 ;
张洋洋 ;
陈轶 ;
王梦达 .
中国专利 :CN115078971B ,2025-10-10
[5]
集成电路测试设备及其测试方法 [P]. 
汝峰 ;
张洋洋 ;
陈轶 ;
王梦达 .
中国专利 :CN115078971A ,2022-09-20
[6]
测试电路、集成电路及其测试方法 [P]. 
西田治雄 ;
石田卓也 .
中国专利 :CN1519576A ,2004-08-11
[7]
集成电路及其测试方法 [P]. 
林树森 .
中国专利 :CN103116123A ,2013-05-22
[8]
集成电路及其测试方法 [P]. 
横田俊彦 .
中国专利 :CN1963552A ,2007-05-16
[9]
集成电路及其测试方法 [P]. 
林明燕 ;
王梓百 ;
翁宏启 .
中国专利 :CN117630632A ,2024-03-01
[10]
集成电路及其测试方法 [P]. 
张华享 ;
大元文一 .
中国专利 :CN111081645B ,2020-04-28
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