集成电路测试卡

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610008526.X

申请日：

2006-02-16

公开(公告)号：

CN100565218C

公开(公告)日：

2007-08-22

发明(设计)人：

范宏光

申请人：

申请人地址：

台湾省新竹县

IPC主分类号：

G01R1073

IPC分类号：

G01R102 G01R3128 H01L2166

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

周国城

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-04-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101065089129 IPC(主分类):G01R 1/073 专利号:ZL200610008526X 申请日:20060216 授权公告日:20091202 终止日期:20100216
2007-10-17	实质审查的生效	实质审查的生效
2007-08-22	公开	公开
2009-12-02	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路测试卡 [P].

范宏光 .

中国专利 :CN101021550A ,2007-08-22

[2]

集成电路测试卡 [P].

范宏光 ;

林燊一 .

中国专利 :CN101021548A ,2007-08-22

[3]

集成电路测试卡 [P].

吕福进 .

中国专利 :CN2658938Y ,2004-11-24

[4]

集成电路测试卡 [P].

范宏光 ;

洪文兴 .

中国专利 :CN1752759A ,2006-03-29

[5]

集成电路测试卡 [P].

刘俊良 ;

徐梅淑 .

中国专利 :CN1940572A ,2007-04-04

[6]

集成电路测试方法 [P].

黄建兴 ;

吴亭莹 ;

罗钦元 ;

罗新慧 .

中国专利 :CN119597564A ,2025-03-11

[7]

集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN205193228U ,2016-04-27

[8]

测试集成电路芯片的探针卡 [P].

李汉植 ;

金训正 .

中国专利 :CN1218285A ,1999-06-02

[9]

集成电路芯片卡 [P].

璩泽明 ;

梁裕民 .

中国专利 :CN201708149U ,2011-01-12

[10]

集成电路测试探针卡的结构 [P].

洪干耀 .

中国专利 :CN101676733A ,2010-03-24

← 1 2 3 4 5 →