集成电路测试探针卡的结构

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810304545.6

申请日：

2008-09-17

公开(公告)号：

CN101676733A

公开(公告)日：

2010-03-24

发明(设计)人：

洪干耀

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹市埔顶路18号2楼之2

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

G01R1073 G01R3128

代理机构：

长沙正奇专利事务所有限责任公司

代理人：

何为

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-12-03	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101707863668 IPC(主分类):G01R 1/067 专利申请号:2008103045456 申请公布日:20100324
2010-03-24	公开	公开
2011-11-02	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101126511920 IPC(主分类):G01R 1/067 专利申请号:2008103045456 申请日:20080917

共 50 条

[1]

集成电路测试探针卡的改良结构 [P].

洪干耀 .

中国专利 :CN201281717Y ,2009-07-29

[2]

集成电路之测试探针卡 [P].

李文聪 ;

林承锐 ;

谢开杰 .

中国专利 :CN108459181A ,2018-08-28

[3]

集成电路之测试探针卡 [P].

李文聪 ;

林承锐 ;

谢开杰 .

中国专利 :CN108152544A ,2018-06-12

[4]

测试集成电路芯片的探针卡 [P].

李汉植 ;

金训正 .

中国专利 :CN1218285A ,1999-06-02

[5]

一种检测集成电路的测试探针卡 [P].

王文庆 .

中国专利 :CN105929208B ,2016-09-07

[6]

一种集成电路测试探针卡固定架结构 [P].

范贤政 .

中国专利 :CN223501031U ,2025-10-31

[7]

一种集成电路测试探针卡装置及方法 [P].

沈海兵 .

中国专利 :CN118131016A ,2024-06-04

[8]

一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构 [P].

王忠 .

中国专利 :CN213423232U ,2021-06-11

[9]

一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构 [P].

顾良波 ;

凌俭波 ;

岳小兵 ;

王锦 ;

季海英 .

中国专利 :CN108717159A ,2018-10-30

[10]

一种应用于集成电路的测试探针卡 [P].

王文庆 .

中国专利 :CN106093752A ,2016-11-09

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