一种集成电路测试探针卡固定架结构

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422178368.9

申请日：

2024-09-05

公开(公告)号：

CN223501031U

公开(公告)日：

2025-10-31

发明(设计)人：

范贤政

申请人：

强一半导体（合肥）有限公司

申请人地址：

230000 安徽省合肥市经济技术开发区青龙潭路集成电路科技园C3栋一层北区和二层北区

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

合肥中佳智诚专利代理事务所(普通合伙) 34409

代理人：

岳力

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-31	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路测试探针卡的结构 [P].

洪干耀 .

中国专利 :CN101676733A ,2010-03-24

[2]

集成电路测试探针卡的改良结构 [P].

洪干耀 .

中国专利 :CN201281717Y ,2009-07-29

[3]

一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构 [P].

王忠 .

中国专利 :CN213423232U ,2021-06-11

[4]

集成电路之测试探针卡 [P].

李文聪 ;

林承锐 ;

谢开杰 .

中国专利 :CN108459181A ,2018-08-28

[5]

集成电路之测试探针卡 [P].

李文聪 ;

林承锐 ;

谢开杰 .

中国专利 :CN108152544A ,2018-06-12

[6]

一种集成电路测试用探针卡固定架装置 [P].

徐振 .

中国专利 :CN220455368U ,2024-02-06

[7]

一种集成电路测试探针卡及测试系统保护结构 [P].

顾良波 ;

凌俭波 ;

岳小兵 ;

王锦 ;

季海英 .

中国专利 :CN108717159A ,2018-10-30

[8]

一种集成电路测试探针卡装置及方法 [P].

沈海兵 .

中国专利 :CN118131016A ,2024-06-04

[9]

一种检测集成电路的测试探针卡 [P].

王文庆 .

中国专利 :CN105929208B ,2016-09-07

[10]

一种集成电路测试探针座 [P].

徐俊 .

中国专利 :CN111122927A ,2020-05-08

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