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一种检测集成电路的测试探针卡
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201610455200.5
申请日：
2016-06-20
公开(公告)号：
CN105929208B
公开(公告)日：
2016-09-07
发明(设计)人：
王文庆
申请人：
申请人地址：
518118 广东省深圳市坪山新区坪山坪环社区老围四巷7号一单元602
IPC主分类号：
G01R1073
IPC分类号：
代理机构：
重庆创新专利商标代理有限公司 50125
代理人：
尹梅
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2016-09-07 | 公开 | 公开 |
| 2019-06-04 | 授权 | 授权 |
| 2019-05-21 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利申请权的转移 IPC(主分类):G01R 1/073 登记生效日:20190506 变更事项:申请人 变更前权利人:东莞市联洲知识产权运营管理有限公司 变更后权利人:深圳市三盈佳电子材料有限公司 变更事项:地址 变更前权利人:523000 广东省东莞市松山湖高新技术产业工发区生产力大厦406 变更后权利人:518118 广东省深圳市坪山新区坪山坪环社区老围四巷7号一单元602 |
| 2016-10-05 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101681304152 IPC(主分类):G01R 1/073 专利申请号:2016104552005 申请日:20160620 |