一种应用于集成电路的测试探针卡

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610455264.5
申请日
2016-06-20
公开(公告)号
CN106093752A
公开(公告)日
2016-11-09
发明(设计)人
王文庆
申请人
申请人地址
523000 广东省东莞市松山湖高新技术产业工发区生产力大厦406
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R1067
代理机构
北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246
代理人
连平
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种检测集成电路的测试探针卡 [P]. 
王文庆 .
中国专利 :CN105929208B ,2016-09-07
[2]
集成电路测试探针卡的结构 [P]. 
洪干耀 .
中国专利 :CN101676733A ,2010-03-24
[3]
一种用于测试集成电路的探针卡 [P]. 
王文庆 .
中国专利 :CN106405167B ,2017-02-15
[4]
集成电路测试探针卡的改良结构 [P]. 
洪干耀 .
中国专利 :CN201281717Y ,2009-07-29
[5]
集成电路之测试探针卡 [P]. 
李文聪 ;
林承锐 ;
谢开杰 .
中国专利 :CN108459181A ,2018-08-28
[6]
集成电路之测试探针卡 [P]. 
李文聪 ;
林承锐 ;
谢开杰 .
中国专利 :CN108152544A ,2018-06-12
[7]
一种集成电路测试探针座 [P]. 
徐俊 .
中国专利 :CN111122927A ,2020-05-08
[8]
一种集成电路测试探针卡装置及方法 [P]. 
沈海兵 .
中国专利 :CN118131016A ,2024-06-04
[9]
测试集成电路芯片的探针卡 [P]. 
李汉植 ;
金训正 .
中国专利 :CN1218285A ,1999-06-02
[10]
一种集成电路测试探针卡固定架结构 [P]. 
范贤政 .
中国专利 :CN223501031U ,2025-10-31