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测试集成电路芯片的探针卡
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN98102871.3
申请日：
1998-07-16
公开(公告)号：
CN1218285A
公开(公告)日：
1999-06-02
发明(设计)人：
李汉植
金训正
申请人：
申请人地址：
韩国京畿道
IPC主分类号：
H01L2166
IPC分类号：
代理机构：
中原信达知识产权代理有限责任公司
代理人：
谢丽娜
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 1999-06-02 | 公开 | 公开 |
| 2004-05-19 | 授权 | 授权 |
| 2018-08-10 | 专利权的终止 | 专利权有效期届满 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:19980716 授权公告日:20040519 |
| 1999-01-20 | 实质审查请求的生效 | 实质审查请求的生效 |