集成电路测试卡

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200510107971.7

申请日：

2005-09-30

公开(公告)号：

CN1940572A

公开(公告)日：

2007-04-04

发明(设计)人：

刘俊良徐梅淑

申请人：

申请人地址：

中国台湾

IPC主分类号：

G01R102

IPC分类号：

G01R1067 G01R3128 G01R3126 H01L2166

代理机构：

北京律盟知识产权代理有限责任公司

代理人：

王允方

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-11-26	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回
2007-04-04	公开	公开
2007-05-30	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

集成电路测试卡 [P].

范宏光 .

中国专利 :CN100565218C ,2007-08-22

[2]

集成电路测试卡 [P].

范宏光 .

中国专利 :CN101021550A ,2007-08-22

[3]

集成电路测试卡 [P].

吕福进 .

中国专利 :CN2658938Y ,2004-11-24

[4]

集成电路测试卡 [P].

范宏光 ;

林燊一 .

中国专利 :CN101021548A ,2007-08-22

[5]

集成电路测试卡 [P].

范宏光 ;

洪文兴 .

中国专利 :CN1752759A ,2006-03-29

[6]

测试集成电路芯片的探针卡 [P].

李汉植 ;

金训正 .

中国专利 :CN1218285A ,1999-06-02

[7]

集成电路芯片卡 [P].

璩泽明 ;

梁裕民 .

中国专利 :CN201708149U ,2011-01-12

[8]

集成电路测试探针卡的结构 [P].

洪干耀 .

中国专利 :CN101676733A ,2010-03-24

[9]

集成电路测试系统 [P].

叶剑文 .

中国专利 :CN207799022U ,2018-08-31

[10]

集成电路测试系统 [P].

祁俊华 .

中国专利 :CN108107309A ,2018-06-01

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