具扫描测试的集成电路及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610819961.4

申请日：

2016-09-13

公开(公告)号：

CN106526463A

公开(公告)日：

2017-03-22

发明(设计)人：

周文华傅国尧李冠仑曾才旺

申请人：

申请人地址：

中国台湾台北市松山区民生东路三段130巷9号5楼

IPC主分类号：

G01R313185

IPC分类号：

代理机构：

北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019

代理人：

寿宁;张华辉

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-03-27	授权	授权
2017-04-19	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101714019090 IPC(主分类):G01R 31/3185 专利申请号:2016108199614 申请日:20160913
2017-03-22	公开	公开

共 50 条

[1]

包括扫描测试电路的集成电路器件及其测试方法 [P].

郑胜在 ;

金容天 .

中国专利 :CN1519573B ,2004-08-11

[2]

测试电路、集成电路及其测试方法 [P].

西田治雄 ;

石田卓也 .

中国专利 :CN1519576A ,2004-08-11

[3]

集成电路及其测试方法 [P].

林树森 .

中国专利 :CN103116123A ,2013-05-22

[4]

集成电路及其测试方法 [P].

郑升炫 .

韩国专利 :CN114113971B ,2025-03-28

[5]

集成电路及其测试方法 [P].

横田俊彦 .

中国专利 :CN1963552A ,2007-05-16

[6]

集成电路及其测试方法 [P].

林明燕 ;

王梓百 ;

翁宏启 .

中国专利 :CN117630632A ,2024-03-01

[7]

集成电路及其测试方法 [P].

张华享 ;

大元文一 .

中国专利 :CN111081645B ,2020-04-28

[8]

集成电路及其测试方法 [P].

郑升炫 .

中国专利 :CN114113971A ,2022-03-01

[9]

集成电路测试设备及其测试方法 [P].

汝峰 ;

张洋洋 ;

陈轶 ;

王梦达 .

中国专利 :CN115078971B ,2025-10-10

[10]

集成电路测试设备及其测试方法 [P].

汝峰 ;

张洋洋 ;

陈轶 ;

王梦达 .

中国专利 :CN115078971A ,2022-09-20

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