包括扫描测试电路的集成电路器件及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200310123279.4

申请日：

2003-12-22

公开(公告)号：

CN1519573B

公开(公告)日：

2004-08-11

发明(设计)人：

郑胜在金容天

申请人：

申请人地址：

韩国京畿道

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G11C2900 H01L2166 G06F1122

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

邸万奎;黄小临

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-05-11	授权	授权
2004-08-11	公开	公开
2013-02-27	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101399118152 IPC(主分类):G01R 31/28 专利号:ZL2003101232794 申请日:20031222 授权公告日:20110511 终止日期:20111222
2006-02-15	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

包括测试电路的集成电路及其制造方法 [P].

韩昌虎 ;

任美贞 ;

金允哲 ;

吴光焄 .

中国专利 :CN115706023A ,2023-02-17

[2]

测试电路、集成电路及其测试方法 [P].

西田治雄 ;

石田卓也 .

中国专利 :CN1519576A ,2004-08-11

[3]

半导体集成电路器件及其测试方法 [P].

山根一伦 ;

黑川敬之 ;

多田勇治 ;

中村博功 ;

北畠学 .

中国专利 :CN101471142A ,2009-07-01

[4]

测试多集成电路器件的方法及装置 [P].

M·E·斯坦雷 ;

J·S·瓦卡罗 .

中国专利 :CN103033736B ,2013-04-10

[5]

具扫描测试的集成电路及其测试方法 [P].

周文华 ;

傅国尧 ;

李冠仑 ;

曾才旺 .

中国专利 :CN106526463A ,2017-03-22

[6]

测试电路、集成电路及测试方法 [P].

西田治雄 ;

石田卓也 .

中国专利 :CN1519575A ,2004-08-11

[7]

集成电路的测试电路 [P].

施浩 .

中国专利 :CN2844936Y ,2006-12-06

[8]

用于测试集成电路器件的装置及其方法 [P].

成彦昔 ;

辛武钟 .

中国专利 :CN111583988A ,2020-08-25

[9]

集成电路扫描测试的方法及系统 [P].

杨文彬 ;

万郁葱 ;

陈志军 .

中国专利 :CN113589153A ,2021-11-02

[10]

集成电路测试方法 [P].

郝乐 ;

宿晓慧 ;

韩郑生 ;

罗家俊 .

中国专利 :CN102866349A ,2013-01-09

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