用于运行用于检测测量气体空间中的测量气体的至少一个特性的传感器的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880018545.1

申请日：

2018-01-19

公开(公告)号：

CN110418960B

公开(公告)日：

2019-11-05

发明(设计)人：

A·施罗德 D·迪克 M·瓦尔多夫

申请人：

申请人地址：

德国斯图加特

IPC主分类号：

G01N27417

IPC分类号：

F01N1100 G01M1510

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

郭毅

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-06	授权	授权
2020-04-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 27/417 申请日:20180119
2019-11-05	公开	公开

共 50 条

[1]

用于确定测量气体空间中测量气体的至少一个特性的探测器 [P].

A·汉斯 ;

F·迈尔 ;

S·伯夫特 .

中国专利 :CN105092780A ,2015-11-25

[2]

用于运行检测测量气体室中测量气体的至少一个特性的传感器的方法 [P].

B·莱德曼 ;

F·魏瑟尔 .

德国专利 :CN119790300A ,2025-04-08

[3]

用于制造用于检测测量气体空间中的测量气体的至少一个特性的传感器的传感器元件的密封装置的方法 [P].

C·耶格 ;

J·莫拉特 ;

M·罗森兰德 ;

B·维尔德 .

中国专利 :CN105572201B ,2016-05-11

[4]

用于检测测量气体空间中的测量气体的至少一种特性的传感器元件 [P].

S·施密德 ;

T·莱勒 .

中国专利 :CN105518445A ,2016-04-20

[5]

用于检测测量气体空间中的测量气体的至少一种特性的传感器元件 [P].

C·彼得斯 ;

K·扎纳 ;

L·迪尔 ;

K·格罗曼 .

中国专利 :CN104634846A ,2015-05-20

[6]

用于检测测量气体空间中的测量气体的至少一种特性的传感器元件 [P].

G·德罗姆拉尔 ;

M·皮沃斯基 ;

T·扎姆 ;

P·拉费尔施泰特尔 ;

L·迪尔 ;

T·莱勒 .

中国专利 :CN108431589B ,2018-08-21

[7]

用于检测测量气体室中的测量气体的至少一个特性的传感器 [P].

M·埃卡特 .

中国专利 :CN105572203B ,2016-05-11

[8]

用于运行检测测量气体室中测量气体的至少一个特性的传感器的方法 [P].

A·施韦尔茨勒 ;

C·施密德 .

德国专利 :CN120129832A ,2025-06-10

[9]

用于检测测量气体的至少一个特性的传感器和用于运行传感器的方法 [P].

M·舍尔 .

中国专利 :CN115552218A ,2022-12-30

[10]

用于加工用于检测在测量气体空间中的测量气体的至少一特性的传感器元件的方法 [P].

C.沃尔夫 ;

M.皮旺斯基 .

中国专利 :CN105092674A ,2015-11-25

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