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用于检测测量气体空间中的测量气体的至少一种特性的传感器元件
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201680076170.5
申请日
:
2016-11-09
公开(公告)号
:
CN108431589B
公开(公告)日
:
2018-08-21
发明(设计)人
:
G·德罗姆拉尔
M·皮沃斯基
T·扎姆
P·拉费尔施泰特尔
L·迪尔
T·莱勒
申请人
:
申请人地址
:
德国斯图加特
IPC主分类号
:
G01N27407
IPC分类号
:
代理机构
:
永新专利商标代理有限公司 72002
代理人
:
郭毅
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-07-06
授权
授权
2019-01-18
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 27/407 申请日:20161109
2018-08-21
公开
公开
共 50 条
[1]
用于检测测量气体空间中的测量气体的至少一种特性的传感器元件
[P].
S·施密德
论文数:
0
引用数:
0
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0
S·施密德
;
T·莱勒
论文数:
0
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0
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0
T·莱勒
.
中国专利
:CN105518445A
,2016-04-20
[2]
用于探测测量气体空间中测量气体的至少一种特性的传感器元件
[P].
L·迪尔
论文数:
0
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0
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0
L·迪尔
;
C·彼得斯
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0
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0
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0
C·彼得斯
.
中国专利
:CN103728357A
,2014-04-16
[3]
用于检测测量气体空间中的测量气体的至少一种特性的传感器元件
[P].
C·彼得斯
论文数:
0
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0
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0
C·彼得斯
;
K·扎纳
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0
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K·扎纳
;
L·迪尔
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0
L·迪尔
;
K·格罗曼
论文数:
0
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0
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0
K·格罗曼
.
中国专利
:CN104634846A
,2015-05-20
[4]
用于检测测量气体空间中的测量气体的至少一种特性的传感器元件以及用用于制造所述传感器元件的方法
[P].
T·于斯特尔
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0
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T·于斯特尔
;
O·多特魏希
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O·多特魏希
;
A·托伊伯
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A·托伊伯
;
J·施奈德
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0
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J·施奈德
;
F·布泽
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F·布泽
;
P·阿尔特
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P·阿尔特
;
A·比朔夫
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A·比朔夫
;
A·罗特曼
论文数:
0
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0
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0
A·罗特曼
.
中国专利
:CN106164664A
,2016-11-23
[5]
用于加工用于检测在测量气体空间中的测量气体的至少一特性的传感器元件的方法
[P].
C.沃尔夫
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C.沃尔夫
;
M.皮旺斯基
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0
M.皮旺斯基
.
中国专利
:CN105092674A
,2015-11-25
[6]
用于检测测量气体室内的测量气体的至少一种特性的传感器元件
[P].
J.施奈德
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0
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0
J.施奈德
;
F.施坦格迈尔
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F.施坦格迈尔
;
L.迪尔
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0
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0
L.迪尔
.
中国专利
:CN106461600A
,2017-02-22
[7]
用于运行用于检测测量气体空间中的测量气体的至少一个特性的传感器的方法
[P].
A·施罗德
论文数:
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0
A·施罗德
;
D·迪克
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0
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D·迪克
;
M·瓦尔多夫
论文数:
0
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0
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0
M·瓦尔多夫
.
中国专利
:CN110418960B
,2019-11-05
[8]
用于获取测量气体空间中气体的至少一个性能的传感器元件
[P].
J·施奈德
论文数:
0
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J·施奈德
;
L·迪尔
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L·迪尔
;
S·克勒特
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S·克勒特
;
G·施奈德
论文数:
0
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0
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0
G·施奈德
.
中国专利
:CN103748460A
,2014-04-23
[9]
用于制造用于检测测量气体空间中的测量气体的至少一个特性的传感器的传感器元件的密封装置的方法
[P].
C·耶格
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0
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C·耶格
;
J·莫拉特
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0
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J·莫拉特
;
M·罗森兰德
论文数:
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M·罗森兰德
;
B·维尔德
论文数:
0
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0
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0
B·维尔德
.
中国专利
:CN105572201B
,2016-05-11
[10]
用于运行用于检测在测量气体空间中的测量气体的颗粒的传感器元件的方法
[P].
D·诺尔茨
论文数:
0
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0
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0
D·诺尔茨
.
中国专利
:CN109997026B
,2019-07-09
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