一种支持MIPI C-PHY显示模组老化测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202120517755.4

申请日：

2021-03-11

公开(公告)号：

CN214251464U

公开(公告)日：

2021-09-21

发明(设计)人：

韦文勇齐斌斌何海生何栢根

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙华区观湖街道松元厦社区虎地排120号锦绣大地10号楼401

IPC主分类号：

G01M1100

IPC分类号：

代理机构：

深圳市中科创为专利代理有限公司 44384

代理人：

冯建华;宋鹏跃

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-09-21	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用于Mipi C-PHY信号的测试治具 [P].

张浩熙 ;

彭涛 ;

王斌 ;

陈赛 .

中国专利 :CN223123136U ,2025-07-18

[2]

一种MIPI C-PHY信号接收电路及测试设备 [P].

张博佳 .

中国专利 :CN214315253U ,2021-09-28

[3]

一种显示模组老化测试装置 [P].

徐振生 .

中国专利 :CN222671883U ,2025-03-25

[4]

一种显示模组老化测试装置 [P].

高长华 ;

叶坤 ;

商秋锋 .

中国专利 :CN207895008U ,2018-09-21

[5]

一种液晶显示模组老化测试装置 [P].

赵小可 ;

韩吴兵 ;

赖桂琼 ;

张海标 ;

刘静帅 .

中国专利 :CN217277746U ,2022-08-23

[6]

一种基于MIPI接口液晶模组的老化测试转化装置及老化测试系统 [P].

刘谋辉 ;

萧富昇 ;

王长宗 .

中国专利 :CN207852280U ,2018-09-11

[7]

一种显示模组老化测试装置及老化测试方法 [P].

高长华 ;

叶坤 ;

商秋锋 .

中国专利 :CN108037398A ,2018-05-15

[8]

一种显示模组的老化测试装置 [P].

邓俊能 ;

李施君 ;

郑红 ;

彭兆基 .

中国专利 :CN115598451A ,2023-01-13

[9]

固定组件及显示模组老化测试装置 [P].

赵树勇 ;

李高敏 ;

程保龙 ;

孙剑 ;

高裕弟 .

中国专利 :CN220455399U ,2024-02-06

[10]

一种液晶模组老化测试装置 [P].

邹翔 .

中国专利 :CN209879188U ,2019-12-31

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