学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

单元测试方法、装置及存储介质

被引：0
申请号：
CN202210267915.3
申请日：
2022-03-17
公开(公告)号：
CN114840411A
公开(公告)日：
2022-08-02
发明(设计)人：
张金国
申请人：
申请人地址：
310052 浙江省杭州市滨江区长河街道网商路699号4号楼5楼508室
IPC主分类号：
G06F1136
IPC分类号：
代理机构：
北京开阳星知识产权代理有限公司 11710
代理人：
安伟
法律状态：
公开
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-08-02 公开 公开
2022-08-19 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20220317
共 50 条
[1]
单元测试方法、装置及存储介质 [P]. 
张金国 .
中国专利 :CN114840411B ,2025-02-11
[2]
单元测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P]. 
欧燊 .
中国专利 :CN113448853A ,2021-09-28
[3]
单元测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P]. 
欧燊 .
中国专利 :CN113448853B ,2024-06-25
[4]
单元测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
孔梦 ;
陈明 ;
申志敏 ;
朱怀宇 ;
赵英杰 ;
潘雨 ;
吴曾 .
中国专利 :CN118796658B ,2025-11-07
[5]
单元测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
孔梦 ;
陈明 ;
申志敏 ;
朱怀宇 ;
赵英杰 ;
潘雨 ;
吴曾 .
中国专利 :CN118796658A ,2024-10-18
[6]
单元测试方法、装置和存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN119088707A ,2024-12-06
[7]
单元测试方法、装置、设备、存储介质及产品 [P]. 
林培训 .
中国专利 :CN115422085A ,2022-12-02
[8]
一种单元测试方法、装置、系统及存储介质 [P]. 
赵晓龙 .
中国专利 :CN114168466A ,2022-03-11
[9]
单元测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张成志 ;
魏莉力 ;
朱恒成 ;
盛勤 ;
张兵 ;
宋丽红 .
中国专利 :CN115587030B ,2025-09-19
[10]
单元测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张成志 ;
魏莉力 ;
朱恒成 ;
盛勤 ;
张兵 ;
宋丽红 .
中国专利 :CN115587030A ,2023-01-10
12345