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单元测试方法、装置、测试设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110733564.6
申请日：
2021-06-30
公开(公告)号：
CN113448853B
公开(公告)日：
2024-06-25
发明(设计)人：
欧燊
申请人：
东莞市大易产业链服务有限公司
申请人地址：
523000 广东省东莞市南城街道周溪隆溪路5号高盛科技园二期高盛科技大厦第一层02室
IPC主分类号：
G06F11/36
IPC分类号：
代理机构：
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人：
岳晓萍
法律状态：
授权
国省代码：
河北省 唐山市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-06-25 授权 授权
共 50 条
[1]
单元测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P]. 
欧燊 .
中国专利 :CN113448853A ,2021-09-28
[2]
单元测试方法、装置及存储介质 [P]. 
张金国 .
中国专利 :CN114840411B ,2025-02-11
[3]
单元测试方法、装置及存储介质 [P]. 
张金国 .
中国专利 :CN114840411A ,2022-08-02
[4]
单元测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
孔梦 ;
陈明 ;
申志敏 ;
朱怀宇 ;
赵英杰 ;
潘雨 ;
吴曾 .
中国专利 :CN118796658B ,2025-11-07
[5]
单元测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
孔梦 ;
陈明 ;
申志敏 ;
朱怀宇 ;
赵英杰 ;
潘雨 ;
吴曾 .
中国专利 :CN118796658A ,2024-10-18
[6]
单元测试方法、装置、设备、存储介质及产品 [P]. 
林培训 .
中国专利 :CN115422085A ,2022-12-02
[7]
单元测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张成志 ;
魏莉力 ;
朱恒成 ;
盛勤 ;
张兵 ;
宋丽红 .
中国专利 :CN115587030B ,2025-09-19
[8]
单元测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张成志 ;
魏莉力 ;
朱恒成 ;
盛勤 ;
张兵 ;
宋丽红 .
中国专利 :CN115587030A ,2023-01-10
[9]
单元测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
方海波 ;
梁家鹏 .
中国专利 :CN117331830A ,2024-01-02
[10]
单元测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张成志 ;
朱恒成 ;
魏莉力 ;
盛勤 ;
宋丽红 ;
张兵 .
中国专利 :CN114153742B ,2025-05-23
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