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逆反射标志测量仪的光路系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201620040235.8
申请日：
2016-01-15
公开(公告)号：
CN205374280U
公开(公告)日：
2016-07-06
发明(设计)人：
杨宗文
田晓辰
吴会杰
高建涛
申请人：
申请人地址：
100000 北京市大兴区黄村镇刘一村委会西500米
IPC主分类号：
G01N2101
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2016-07-06 | 授权 | 授权 |