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布里渊散射测定方法及布里渊散射测定装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201680090431.9
申请日
:
2016-11-01
公开(公告)号
:
CN109891197A
公开(公告)日
:
2019-06-14
发明(设计)人
:
西口宪一
岸田欣增
小山田弥平
申请人
:
申请人地址
:
日本兵库县
IPC主分类号
:
G01D5353
IPC分类号
:
G01B1116
G01K1132
代理机构
:
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人
:
殷明;俞丹
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-06-14
公开
公开
2021-02-02
授权
授权
2019-07-09
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01D 5/353 申请日:20161101
共 50 条
[1]
利用布里渊散射的频谱测定装置及测定方法
[P].
山本义典
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
山本义典
.
中国专利
:CN101246056A
,2008-08-20
[2]
光散射测定装置及光散射测定方法
[P].
中村崇市郎
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
富士胶片株式会社
富士胶片株式会社
中村崇市郎
;
滨田健一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
富士胶片株式会社
富士胶片株式会社
滨田健一
.
日本专利
:CN117501095A
,2024-02-02
[3]
散射体测定方法及散射体测定装置
[P].
宫下万里子
论文数:
0
引用数:
0
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0
宫下万里子
;
大山达史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
大山达史
.
中国专利
:CN113039425A
,2021-06-25
[4]
散射体测定方法及散射体测定装置
[P].
宫下万里子
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
松下知识产权经营株式会社
松下知识产权经营株式会社
宫下万里子
;
大山达史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
松下知识产权经营株式会社
松下知识产权经营株式会社
大山达史
.
日本专利
:CN113039425B
,2024-07-12
[5]
光散射测定装置
[P].
滨尾保
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
大塚电子株式会社
大塚电子株式会社
滨尾保
;
森泽且广
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
大塚电子株式会社
大塚电子株式会社
森泽且广
;
泉谷悠介
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
大塚电子株式会社
大塚电子株式会社
泉谷悠介
;
中串茂幸
论文数:
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0
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0
机构:
大塚电子株式会社
大塚电子株式会社
中串茂幸
;
若山育央
论文数:
0
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0
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0
机构:
大塚电子株式会社
大塚电子株式会社
若山育央
;
友松克之
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
大塚电子株式会社
大塚电子株式会社
友松克之
.
日本专利
:CN117705763A
,2024-03-15
[6]
动态光散射测定装置和动态光散射测定方法
[P].
泉谷悠介
论文数:
0
引用数:
0
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0
泉谷悠介
;
岩井俊昭
论文数:
0
引用数:
0
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0
岩井俊昭
.
中国专利
:CN105277490A
,2016-01-27
[7]
利用散射光的测定方法及测定装置
[P].
尾崎幸洋
论文数:
0
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0
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0
尾崎幸洋
;
山口佳则
论文数:
0
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0
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0
山口佳则
;
窦晓鸣
论文数:
0
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0
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0
窦晓鸣
;
上野山晴三
论文数:
0
引用数:
0
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0
上野山晴三
.
中国专利
:CN1159578A
,1997-09-17
[8]
散射光测定装置
[P].
浮田润一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
浮田润一
;
松村尊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
松村尊
.
中国专利
:CN101278182A
,2008-10-01
[9]
散射光测定装置
[P].
尾崎幸洋
论文数:
0
引用数:
0
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0
尾崎幸洋
;
窦晓鸣
论文数:
0
引用数:
0
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0
窦晓鸣
;
山口佳则
论文数:
0
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0
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0
山口佳则
;
上野山晴三
论文数:
0
引用数:
0
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0
上野山晴三
.
中国专利
:CN1157915A
,1997-08-27
[10]
光散射测定装置以及测定用夹具
[P].
泉谷悠介
论文数:
0
引用数:
0
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0
泉谷悠介
;
若山育央
论文数:
0
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0
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0
若山育央
;
长泽广也
论文数:
0
引用数:
0
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0
长泽广也
.
中国专利
:CN114509372A
,2022-05-17
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