学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
散射体测定方法及散射体测定装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202080005929.7
申请日
:
2020-02-05
公开(公告)号
:
CN113039425A
公开(公告)日
:
2021-06-25
发明(设计)人
:
宫下万里子
大山达史
申请人
:
申请人地址
:
日本大阪府
IPC主分类号
:
G01N1500
IPC分类号
:
G01N1504
G01N1514
G01N2121
G01N2147
G01N2164
G01P518
代理机构
:
永新专利商标代理有限公司 72002
代理人
:
安香子
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-03-08
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/00 申请日:20200205
2021-06-25
公开
公开
共 50 条
[1]
散射体测定方法及散射体测定装置
[P].
宫下万里子
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
松下知识产权经营株式会社
松下知识产权经营株式会社
宫下万里子
;
大山达史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
松下知识产权经营株式会社
松下知识产权经营株式会社
大山达史
.
日本专利
:CN113039425B
,2024-07-12
[2]
控压式水中声学散射体目标强度测定装置及方法
[P].
童剑锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
童剑锋
;
鹿文菲
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
鹿文菲
;
薛铭华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
薛铭华
;
王学昉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王学昉
;
张钟鸣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张钟鸣
.
中国专利
:CN113091877A
,2021-07-09
[3]
光散射测定装置及光散射测定方法
[P].
中村崇市郎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
富士胶片株式会社
富士胶片株式会社
中村崇市郎
;
滨田健一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
富士胶片株式会社
富士胶片株式会社
滨田健一
.
日本专利
:CN117501095A
,2024-02-02
[4]
一种纳米结构散射体
[P].
马平准
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州矽行半导体技术有限公司
苏州矽行半导体技术有限公司
马平准
;
陶齐勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州矽行半导体技术有限公司
苏州矽行半导体技术有限公司
陶齐勇
;
王婧
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州矽行半导体技术有限公司
苏州矽行半导体技术有限公司
王婧
;
陶大帅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州矽行半导体技术有限公司
苏州矽行半导体技术有限公司
陶大帅
;
王少卿
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州矽行半导体技术有限公司
苏州矽行半导体技术有限公司
王少卿
.
中国专利
:CN120628565A
,2025-09-12
[5]
布里渊散射测定方法及布里渊散射测定装置
[P].
西口宪一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
西口宪一
;
岸田欣增
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
岸田欣增
;
小山田弥平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
小山田弥平
.
中国专利
:CN109891197A
,2019-06-14
[6]
动态光散射测定装置和动态光散射测定方法
[P].
泉谷悠介
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
泉谷悠介
;
岩井俊昭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
岩井俊昭
.
中国专利
:CN105277490A
,2016-01-27
[7]
利用散射光的测定方法及测定装置
[P].
尾崎幸洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
尾崎幸洋
;
山口佳则
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
山口佳则
;
窦晓鸣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
窦晓鸣
;
上野山晴三
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
上野山晴三
.
中国专利
:CN1159578A
,1997-09-17
[8]
散射光测定装置
[P].
浮田润一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
浮田润一
;
松村尊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
松村尊
.
中国专利
:CN101278182A
,2008-10-01
[9]
散射光测定装置
[P].
尾崎幸洋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
尾崎幸洋
;
窦晓鸣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
窦晓鸣
;
山口佳则
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
山口佳则
;
上野山晴三
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
上野山晴三
.
中国专利
:CN1157915A
,1997-08-27
[10]
光散射测定装置
[P].
滨尾保
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
大塚电子株式会社
大塚电子株式会社
滨尾保
;
森泽且广
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
大塚电子株式会社
大塚电子株式会社
森泽且广
;
泉谷悠介
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
大塚电子株式会社
大塚电子株式会社
泉谷悠介
;
中串茂幸
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
大塚电子株式会社
大塚电子株式会社
中串茂幸
;
若山育央
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
大塚电子株式会社
大塚电子株式会社
若山育央
;
友松克之
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
大塚电子株式会社
大塚电子株式会社
友松克之
.
日本专利
:CN117705763A
,2024-03-15
←
1
2
3
4
5
→