一种纳米结构散射体

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511129338.1

申请日：

2025-08-13

公开(公告)号：

CN120628565A

公开(公告)日：

2025-09-12

发明(设计)人：

马平准陶齐勇王婧陶大帅王少卿

申请人：

苏州矽行半导体技术有限公司

申请人地址：

215163 江苏省苏州市高新区培源路2号微系统园2号楼106室

IPC主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

代理机构：

北京千壹知识产权代理事务所(普通合伙) 11940

代理人：

窦艳鹏

法律状态：

公开

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-12	公开	公开
2025-09-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20250813

共 50 条

[1]

散射体测定方法及散射体测定装置 [P].

宫下万里子 ;

大山达史 .

中国专利 :CN113039425A ,2021-06-25

[2]

散射体测定方法及散射体测定装置 [P].

宫下万里子 ;

大山达史 .

日本专利 :CN113039425B ,2024-07-12

[3]

一种体散射缺陷检测设备及方法 [P].

石兆华 ;

黄进 ;

王凤蕊 ;

刘东 ;

程邢磊 ;

王狮凌 ;

钱常德 ;

邓青华 .

中国专利 :CN114486911A ,2022-05-13

[4]

一种SAXS散射体的形状因子计算方法 [P].

陈修国 ;

杨天娟 ;

刘世元 ;

张家豪 ;

马健源 .

中国专利 :CN114742942B ,2024-07-26

[5]

一种SAXS散射体的形状因子计算方法 [P].

陈修国 ;

杨天娟 ;

刘世元 ;

张家豪 ;

马健源 .

中国专利 :CN114742942A ,2022-07-12

[6]

一种纳米颗粒高信噪比暗场散射显微成像方法 [P].

孔令豹 ;

唐鑫岚 .

中国专利 :CN119535778A ,2025-02-28

[7]

一种纳米颗粒高信噪比暗场散射显微成像方法 [P].

孔令豹 ;

唐鑫岚 .

中国专利 :CN119535778B ,2025-04-29

[8]

一种飞秒干涉散射显微成像系统及测量方法 [P].

康斌 ;

吕品田 ;

徐静娟 ;

陈洪渊 .

中国专利 :CN113251916B ,2021-08-13

[9]

一种扫频式布里渊散射体弹性模量成像检测方法 [P].

张余宝 ;

朱羿叡 ;

刘严欢 ;

谢成峰 ;

史久林 ;

何兴道 .

中国专利 :CN110426372B ,2019-11-08

[10]

一种共路双色及平行探测受激拉曼散射显微成像系统 [P].

沈炳林 ;

李政林 ;

刘丽炜 ;

屈军乐 .

中国专利 :CN118190907A ,2024-06-14

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