一种光学图像法测量Zeta(ζ)电位及粒子尺寸的仪器

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010660638.3

申请日：

2020-07-10

公开(公告)号：

CN111766183A

公开(公告)日：

2020-10-13

发明(设计)人：

柳钟丽杨涛韩广乾

申请人：

申请人地址：

200120 上海市浦东新区万祥镇宏祥北路83弄1-42号20幢118室

IPC主分类号：

G01N1500

IPC分类号：

G01N1502

代理机构：

上海微策知识产权代理事务所(普通合伙) 31333

代理人：

张静

法律状态：

发明专利申请公布后的撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-06-22	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01N 15/00 申请公布日:20201013
2020-10-13	公开	公开
2020-10-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/00 申请日:20200710

共 50 条

[1]

一种光学图像法测量Zeta电位及粒子尺寸的仪器 [P].

柳钟丽 ;

杨涛 .

中国专利 :CN114910393A ,2022-08-16

[2]

光学图像法测量棉纤维杂质的装置 [P].

肖中高 ;

袁光辉 ;

郭鹏辉 .

中国专利 :CN201449375U ,2010-05-05

[3]

一种螺纹测量用光学图像测量仪 [P].

谭育 ;

杨杰 .

中国专利 :CN212843404U ,2021-03-30

[4]

一种便于定位的孔径测量用光学图像测量仪 [P].

谭育 ;

杨杰 .

中国专利 :CN212458276U ,2021-02-02

[5]

一种新型的光学图像传感器装置 [P].

李志谦 ;

朱恒宇 .

中国专利 :CN201123053Y ,2008-09-24

[6]

一种图像与尺寸测量用可调式光学测量仪 [P].

徐华斌 .

中国专利 :CN120353079A ,2025-07-22

[7]

一种基于恒电位法的余氯测量装置 [P].

唐翔 ;

郑小金 ;

胡勇 .

中国专利 :CN221377789U ,2024-07-19

[8]

一种光学模具尺寸测量工具 [P].

诸建勋 .

中国专利 :CN209820402U ,2019-12-20

[9]

一种测量归一化植被差异指数的方法及仪器 [P].

李震 ;

洪添胜 ;

文韬 ;

岳学军 ;

宋淑然 ;

孙道宗 ;

倪慧娜 ;

王为之 ;

张建 .

中国专利 :CN103900974A ,2014-07-02

[10]

一种图像尺寸测量仪 [P].

康华军 .

中国专利 :CN211034363U ,2020-07-17

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