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一种光学图像法测量Zeta电位及粒子尺寸的仪器
被引:0
申请号
:
CN202110714855.0
申请日
:
2021-06-26
公开(公告)号
:
CN114910393A
公开(公告)日
:
2022-08-16
发明(设计)人
:
柳钟丽
杨涛
申请人
:
申请人地址
:
215300 江苏省苏州市昆山市玉山镇祖冲之南路1669号1208室
IPC主分类号
:
G01N1502
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-09-02
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/02 申请日:20210626
2022-08-16
公开
公开
共 50 条
[1]
一种光学图像法测量Zeta(ζ)电位及粒子尺寸的仪器
[P].
柳钟丽
论文数:
0
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柳钟丽
;
杨涛
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杨涛
;
韩广乾
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韩广乾
.
中国专利
:CN111766183A
,2020-10-13
[2]
一种图像灰度法粒子Zeta电位分析方法
[P].
范继来
论文数:
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机构:
丹东百特仪器有限公司
丹东百特仪器有限公司
范继来
;
李闯
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机构:
丹东百特仪器有限公司
丹东百特仪器有限公司
李闯
;
陈权
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机构:
丹东百特仪器有限公司
丹东百特仪器有限公司
陈权
;
刘越强
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机构:
丹东百特仪器有限公司
丹东百特仪器有限公司
刘越强
.
中国专利
:CN110044992B
,2024-02-02
[3]
一种图像灰度法粒子Zeta电位分析方法
[P].
范继来
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范继来
;
李闯
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李闯
;
陈权
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陈权
;
刘越强
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刘越强
.
中国专利
:CN110044992A
,2019-07-23
[4]
光学图像法测量棉纤维杂质的装置
[P].
肖中高
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肖中高
;
袁光辉
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袁光辉
;
郭鹏辉
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郭鹏辉
.
中国专利
:CN201449375U
,2010-05-05
[5]
一种颗粒Zeta电位的极性的测量装置
[P].
伊艺
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伊艺
;
王艳伟
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王艳伟
;
黄申豪
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黄申豪
;
罗盛
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罗盛
;
牟晓宇
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牟晓宇
;
王鹤榕
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王鹤榕
;
伍绍宇
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伍绍宇
;
吕方怡
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吕方怡
.
中国专利
:CN212622784U
,2021-02-26
[6]
一种用于测量纳米颗粒Zeta电位的显微图像处理方法
[P].
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机构:
韩鹏
;
梁华健
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机构:
华南师范大学
华南师范大学
梁华健
;
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机构:
邱健
;
论文数:
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机构:
彭力
;
论文数:
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机构:
骆开庆
;
论文数:
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机构:
刘冬梅
;
论文数:
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机构:
陈淼
.
中国专利
:CN118347902A
,2024-07-16
[7]
一种测量蒙脱石zeta电位的方法
[P].
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机构:
周春晖
;
赵鹏扬
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机构:
浙江工业大学
浙江工业大学
赵鹏扬
;
论文数:
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机构:
何佳咏
.
中国专利
:CN118225854A
,2024-06-21
[8]
一种ZETA电位仪的数字光学系统
[P].
陈鲁铁
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陈鲁铁
;
梅坚
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梅坚
;
杨海华
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杨海华
;
吴骏逸
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0
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吴骏逸
.
中国专利
:CN201819888U
,2011-05-04
[9]
一种基于图像识别的纤维表面Zeta电位测量方法及装置
[P].
朱庆勇
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朱庆勇
;
陈耀钦
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陈耀钦
;
颜益鹏
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颜益鹏
.
中国专利
:CN104880487A
,2015-09-02
[10]
一种光学图像变换装置
[P].
张震宁
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张震宁
;
张儒丽
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张儒丽
.
中国专利
:CN203055287U
,2013-07-10
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