一种图像灰度法粒子Zeta电位分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910376618.0

申请日：

2019-05-07

公开(公告)号：

CN110044992B

公开(公告)日：

2024-02-02

发明(设计)人：

范继来李闯陈权刘越强

申请人：

丹东百特仪器有限公司

申请人地址：

118009 辽宁省丹东市边境合作区金泉工业区甘泉路9号

IPC主分类号：

G01N27/447

IPC分类号：

代理机构：

沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234

代理人：

李晓光

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

陕西省延安市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-15	著录事项变更	著录事项变更IPC(主分类):G01N 27/447变更事项:发明人变更前:范继来李闯陈权刘越强变更后:范继来李闯陈权威刘岳强
2024-02-02	授权	授权

共 50 条

[1]

一种图像灰度法粒子Zeta电位分析方法 [P].

范继来 ;

李闯 ;

陈权 ;

刘越强 .

中国专利 :CN110044992A ,2019-07-23

[2]

一种光学图像法测量Zeta电位及粒子尺寸的仪器 [P].

柳钟丽 ;

杨涛 .

中国专利 :CN114910393A ,2022-08-16

[3]

一种Zeta电位测定方法及系统 [P].

许世京 ;

伍家忠 ;

王敬瑶 ;

刘庆杰 ;

马德胜 .

中国专利 :CN106841310A ,2017-06-13

[4]

一种实时动态无损测试储层zeta电位的方法 [P].

程志林 ;

张文通 ;

高辉 ;

王琛 ;

李腾 ;

窦亮彬 .

中国专利 :CN114509486A ,2022-05-17

[5]

一种用于测量纳米颗粒Zeta电位的显微图像处理方法 [P].

韩鹏 ;

梁华健 ;

邱健 ;

彭力 ;

骆开庆 ;

刘冬梅 ;

陈淼 .

中国专利 :CN118347902A ,2024-07-16

[6]

一种颗粒Zeta电位的极性的测量装置 [P].

伊艺 ;

王艳伟 ;

黄申豪 ;

罗盛 ;

牟晓宇 ;

王鹤榕 ;

伍绍宇 ;

吕方怡 .

中国专利 :CN212622784U ,2021-02-26

[7]

一种插入式Zeta电位测试样品池 [P].

孙健 ;

陈权威 ;

宁辉 ;

李江涛 .

中国专利 :CN214668760U ,2021-11-09

[8]

一种Zeta电位控制电泳沉积制备石墨烯薄膜的方法 [P].

王富国 ;

张兴凯 ;

梁爱民 ;

张俊彦 .

中国专利 :CN115717262B ,2025-11-28

[9]

一种测量蒙脱石zeta电位的方法 [P].

周春晖 ;

赵鹏扬 ;

何佳咏 .

中国专利 :CN118225854A ,2024-06-21

[10]

一种含油废水的Zeta电位的测定方法 [P].

袁连海 .

中国专利 :CN102478531A ,2012-05-30

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