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检查装置、检查方法以及程序
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202080050643.0
申请日
:
2020-07-09
公开(公告)号
:
CN114096997A
公开(公告)日
:
2022-02-25
发明(设计)人
:
池田祐一
宫泽一之
峯泽彰
德幸博
申请人
:
申请人地址
:
日本东京
IPC主分类号
:
G06T773
IPC分类号
:
G01B1100
G01N2188
G06N304
G06N308
G06N2000
代理机构
:
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人
:
肖靖
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-03-15
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/73 申请日:20200709
2022-02-25
公开
公开
共 50 条
[41]
检查装置以及检查方法
[P].
永田泰史
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
永田泰史
.
中国专利
:CN106796179B
,2017-05-31
[42]
检查方法以及检查装置
[P].
松田文彦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
日本梅克特隆株式会社
日本梅克特隆株式会社
松田文彦
;
熊谷贤司
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
日本梅克特隆株式会社
日本梅克特隆株式会社
熊谷贤司
.
日本专利
:CN114200211B
,2024-12-31
[43]
检查装置以及检查方法
[P].
塚本健夫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
佳能安内华股份有限公司
佳能安内华股份有限公司
塚本健夫
.
日本专利
:CN118661093A
,2024-09-17
[44]
检查装置以及检查方法
[P].
岩桥俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
岩桥俊
;
辻川俊彦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
辻川俊彦
;
片山敦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
片山敦
.
中国专利
:CN101925794B
,2010-12-22
[45]
检查方法以及检查装置
[P].
中岛伸也
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
中岛伸也
.
中国专利
:CN115574714A
,2023-01-06
[46]
检查装置以及检查方法
[P].
木川洋一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
木川洋一
.
中国专利
:CN108090890A
,2018-05-29
[47]
检查方法以及检查装置
[P].
中岛伸也
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
中岛伸也
.
中国专利
:CN113804705A
,2021-12-17
[48]
检查方法以及检查装置
[P].
久利龙平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
久利龙平
.
中国专利
:CN114689593A
,2022-07-01
[49]
检查装置以及检查方法
[P].
船曵洋平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
船曵洋平
.
中国专利
:CN113844983A
,2021-12-28
[50]
检查装置以及检查方法
[P].
五十岚丰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
五十岚丰
.
中国专利
:CN102331240A
,2012-01-25
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